Cтраница 2
Эти вторичные ионы проходят через электростатические линзы, ускоряются и фокусируются в пучок. Пучок вторичных ионов несет реальное изображение, образованное всеми типами ионов, вылетающих с бомбардируемой поверхности образца. Сфокусированный пучок разделяется в масс-спектрометре на отдельные элементарные изображения, каждое из которых соответствует ионам отдельных элементов. Отдельное ионное изображение подается на катод преобразователя, где преобразуется в электронное изображение, проецируемое на экран и на регистрирующую фотопленку. Регулируя настройку масс-спектрометра, можно последовательно наблюдать и фиксировать на пленку картину распределения искомого химического элемента на сканированной поверхности образца. [16]