Качество - интерференционная картина
Cтраница 1
Качество интерференционной картины, формируемой интерферометром ИД, ее яркость и контрастность в немалой степени зависит от правильно подобранного времени экспозиции фотопластинок и от режима их фотографической обработки. [1]
Следовательно, качество интерференционной картины действительно зависит от апертуры интерференции. [2]
От выполнения этих требований зависит качество интерференционной картины, ее стабильность и, в конечном счете, точность измерений. Рассмотрим кратко особенности конструкции различных интерферометров. [3]
Увеличение размера источника ( величины у) ухудшает качество интерференционной картины, так как увеличивается изменение разности хода ( 6Д) и, следовательно, происходит ослабление контраста полос. Элементарные интерференционные картины от отдельных точек источника оказываются сдвинутыми относительно друг друга. Выражение (5.7) определяет этот сдвиг. [4]
Если на пути интерферирующих пучков лучей устанавливаются объективы, то на качество интерференционной картины могут влиять их аберрации. При установке одинаковых объективов в обеих ветвях прибора интерференционная картина ухудшается, если фокусные расстояния объективов отличаются. Сферичность поверхностей плоскопараллельных пластин, призм и зеркал, неоднородность оптических материалов в пластинах и призмах, стоящих на пути интерферирующих лучей, также ухудшают интерференционную картину. Важным требованием к интерферометрам, работающим с белым светом, является равенство толщин оптического стекла и отсутствие клиновидности оптических деталей в обеих ветвях прибора. [5]
Как видно из рассмотренных примеров суперпозиции волн с равными и неравными амплитудами, соотношение между их амплитудами существенно сказывается на качестве интерференционной картины. В первом случае максимумы освещенности в интерференционной картине чередуются с областями, в которых освещенность падает до нуля, во втором случае интерференционная картина накладывается на равномерно освещенный фон. Его освещенность пропорциональна величине ( ах - с2) 2 ( ср. [6]
Как видно из рассмотренных примеров суперпозиции волн с равными и неравными амплитудами, соотношение между их амплитудами существенно сказывается на качестве интерференционной картины. В первом случае максимумы освещенности в интерференционной картине чередуются с областями, в которых освещенность падает до нуля, во втором случае интерференционная картина накладывается на равномерно освещенный фон. Его освещенность пропорциональна величине ( а - а 2 ( ср. [7]
Можно предположить, что столь малая апертура интерференции в этом опыте и приводит к хорошей видимости интерференционной картины при больших размерах источника. Но сопоставление качества интерференционной картины и апертуры интерференции требует более строгого обоснования. Прежде чем его проводить, рассмотрим еще один эксперимент, в котором зависимость между ними выступает в явном виде. [8]
В связи с развитием многолучевой интерференционной техники приобретает существенное значение контроль качества зеркальных поверхностей плоскопараллельных пластин - основных элементов, образующих картину интерференции. Отступление от плоскостности ухудшает качество интерференционной картины, уменьшает разрешающую способность, снижает чувствительность измерений, искажает распределение интенсивности в интерференционной картине. [9]
 |
Многолучевая интерференция в воздушной пластине. [10] |
Зеркальные покрытия на поверхностях Ях и Я 2 имеют коэффициент отражения р, близкий к единице, малый коэффициент пропускания т и коэффициент поглощения света, приблизительно равный нулю. Последнее обстоятельство близко к действительности только для многослойных диэлектрических покрытий но его можно распространить и на металлические слои без значительного ущерба для качества интерференционной картины. [11]
В другой cxeMii в одном плече, которое также становится самоюстирующимся, установлено пассивное обращающее зеркало. Фазовые сдвиги ( без возможности их разделения на взаимные и невзаимные) можно измерять в любом плече. Если между расщепителем пучка и обращающим зеркалом находится оптически неоднородная среда, то качество интерференционной картины остается высоким за счет сопряжения поперечных компонент волнового фронта. [12]
Во-первых, исследуемые объекты могут иметь неправильную форму или даже быть диффузно отражающими. Сложная форма волны, прошедшей исследуемый объект или отраженной от него, не сказывается на качестве интерференционной картины, потому что обе волны - эталонная и рабочая - искажены этим объектом практически одинаково. Вид же интерференционной картины целиком определяется теми изменениями, которые произошли с объектом. [13]
Другая задача юстировки - уравнивание толщины головок. Интерферометр с головками одинаковой толщины дает в белом свете горизонтальные интерференционные полосы. Если полосы образуют с вертикальной щелью спектрографа угол, отличный от прямого, то это указывает на неравенство толщин головок, Впрочем, небольшой наклон полос ( 10 - 15) не скажется на качестве интерференционной картины. [15]
Страницы: 1 2