Cтраница 4
Приборы, служащие для измерения параметров индуктивных катушек и конденсаторов при повышенной и высокой частоте, называют измерителями добротности или Q-метрами. [46]
Схемы замещения конденсатора 114. [47] |
Угол потерь задается в паспорте конденсаторов некоторых типов, а добротность может быть определена экспериментально с помощью специальных измерительных приборов - Q-метров. Емкость конденсаторов С определяют с помощью измерителей емкости. По этим данным при известной частоте ю из формул (3.123) находят сопротивление и проводимость утечки. [48]
Исследуемые пробы воды ( 100 - 150 мл) наливают в пробирки, которые затем помещают в однослойный соленоид, включенный в электрическую цепь Q-метра типа Е-9-4. Затем измеряются добротность и емкость контура с пробой воды и контура с пустой пробиркой. [49]
Измерение емкости производят с помощью Q-метра КВ-1 следующим образом. Без диода контур Q-метра настраивают в резонанс посредством изменения емкости контура. Отметив значение этой емкости по показанию лимба ( назовем эту емкость С ]), подключают исследуемый прибор. Для восстановления резонанса емкость конденсатора Q-метра должна быть уменьшена на величину измеряемой емкости С. [50]
Наиболее целесообразно использовать / - метры для измерения диэлектрической проницаемости образца. Простейшим / - метром является Q-метр, в состав которого вводят эталонный генератор и блок смесителя частот. [51]
Так как с увеличением частоты переменного тока влияние проводимости диэлектрика при измерении емкости уменьшается, то измерения величины Сх целесообразно производить при высоких частотах. Для этой цели был использован Q-метр типа КВ-1, с помощью которого можно измерять величину Сх резонансным методом в пределах от 50 кгц до 50 мгц. [52]
Одним из распространенных приборов такого рода является изготовляемый в Советском Союзе Q-метр типа КВ-1. [53]
Примерная зависимость tg / ( и емкости поливинилаце-талевых пленок на проводах диаметром 1 мм, подвергавшихся тепловому старению в течение 1 - 1б.. суток при 150 С. [54] |
Этот метод также находит применение. Приближенное определение tg6 на высоких частотах может быть произведено с помощью Q-метра, описание которого можно найти в различных пособиях по измерениям на высоких частотах. [55]
Структурная схема F-метра. [56] |
Две последние формулы справедливы только на частотах, не превышающих 5 - 10 МГц. При измерениях на повышенных частотах сказывается влияние паразитных параметров как самого контура Q-метра, так и емкостного датчика. В этих случаях следует учитывать величину паразитных параметров и применять более совершенные методы измерения. [57]
Структурная схема F-метра. [58] |
Две последние формулы справедливы только на частотах, не превышающих 5 - 10 МГц. При измерениях на повышенных частотах сказывается влияние паразитных параметров как самого контура Q-метра, так и емкостного датчика. В этих случаях следует учитывать величину паразитных параметров и применять более совершенные методы измерения. [59]
Коэффициент Q и коэффициент рассеяния испытательных схем с двумя параллельными линиями определяются Q-метром при 1 50 и 100 Мгц. [60]