Качество - отражающая поверхность
Cтраница 1
Качество отражающей поверхности ( возможное наличие рисок, остатков первоначально конической поверхности) проверяют путем прощупывания тонкой иголкой или булавкой, укрепленной на нутромерном индикаторе часового типа. [1]
 |
Ход прямого и отраженного от. [2] |
И, Мандельштам и Н. Д. Папалекси теоретически доказали возможность осуществить передачу и прием радиоимпульса, используя Луну в качестве отражающей поверхности. [3]
 |
Технические характеристики рентгеновских и радиоизотопных датчиков для количественного анализа состава веществ. [4] |
При рентгеновском флюоресцентном анализе точность определения концентраций существенно зависит от следующих факторов: геометрической формы образца, наличия примесей, поглощающих вторичное излучение, размера и качества отражающей поверхности дифракционного кристалла, интенсивности и спектра первичного излучения, спектральных характеристик детекторов. Для уменьшения погрешности используют различные способы компенсации. [5]
Полупрозрачные ( светоделительные) слои обычно помещаются между двумя плоскопараллельными пластинками. В качестве отражающих поверхностей наибольшее распространение имеют алюминий и серебро, наносимые распылением в вакууме или химическом путем из растворов. [6]
 |
Схема радиационного теплообме-нд при наличии экрана. [7] |
Наиболее просто это достигается устройством на пути лучистого потока специальных отражающих или теплопоглощающих поверхностей, называемых экранами. В качестве отражающих поверхностей для экранов могут быть использованы полированные тонкие металлические листы. [8]
В поисках путей решения проблемы расстояния ученые обратили внимание на возможность использования отражения ультракоротких волн от различных проводящих поверхностей, диэлектрические свойства которых отличаются от свойств окружающей среды. В частности, был выдвинут проект использовать в качестве отражающей поверхности спутника Земли - Луну. Согласно этому проекту мощные сигналы ультракоротковолновой телевизионной станции направляются на поверхность Луны, а отраженные волны широким конусом возвращаются на Землю. [9]
Получение эталонов с высоким разрешением и большой светосилой определяется возможностью изготовления достаточно точных оптических поверхностей и зеркальных слоев, обладающих высоким коэффициентом отражения и малым поглощением. Возможные значения коэффициентов пропускания Т и отражения г зеркальных слоев, образованных металлическими пленками, ограничены оптическими свойствами применяемых металлов. Значительно более выгодные соотношения между Гиг можно получить, применяя в качестве отражающих поверхностей многослойные диэлектрические покрытия, которые в последнее время получили широкое распространение и постепенно вытесняют металлические покрытия. [10]
В статье [196] исследуется множество отраженных торсом лучей при линейном источнике излучения. Известно, что лучи, отраженные от прямолинейной образующей торса, представляют собой пучок с центром в точке, симметричной точке - излучения относительно касательной плоскости к торсу вдоль этой образующей. Линейный источник излучения рассматривается как однопа-раметрическое множество точек. Для примера в качестве отражающей поверхности принят торс-геликоид. Получены уравнения, описывающие комплекс отраженных лучей. [11]
Он представляет собой афокальную систему с единичным увеличением, в которой плоские пластины интерферометра Фабри - Перо заменены парой конфокальных зеркал. Диаметр осевой моды интерферометра Конна меньше, чем соответствующий диаметр в интерферометре Фабри - Перо. Это значит, что используется меньшая часть пластины и требования к качеству отражающей поверхности менее жесткие. Кроме того, благодаря тому что энергия распределена в круге меньшего диаметра, уменьшаются дифракционные потери. [12]
Если А 0 500 нм, то соседние максимумы, лежащие при А 0 ДА, соответствуют А, 400 нм и А 2 600 нм. Они могут быть отделены от нужного максимума А 0 с помощью обычного стеклянного цветного фильтра. Оставшийся максимум при достаточно высокой отражательной способности R зеркальных слоев может быть очень узок. Чтобы фильтр не давал заметного ослабления света в этой полосе, в качестве отражающих поверхностей используют многослойные диэлектрические покрытия. [13]
 |
Тест-образцы для эталонирования чувствительности различными отражателями. [14] |
При настройке РС-иокателей ось отверстия должна быть перпендикулярна к поверхности образца. Сначала обычным сверлом заданного диаметра просверливается отверстие глубиной на 1 5 - 2 мм меньше, чем по чертежу. Затем на наждачном камне режущая кромка сверла торцуется. Доводка торцовой части производится на наждачной бумаге. Качество торцовки проверяется с помощью инструментального угольника на просвет. Затем этим сверлом отверстие доводится до заданной глубины. Качество отражающей поверхности проверяется путем прощупывания тонкой иголкой или бу. [15]
Страницы: 1 2