Длительность - импульс - излучение
Cтраница 1
Длительность импульса излучения обычно составляет ОТ 0 2 ДО 5 мс, их частота 1 - 10 Гц. Такой режим позволяет получить высокую концентрацию энергии В МО-мент импульса в луче лазера ( пиковая мощность импульсов может достигать десятков киловатт) при небольшой средней мощности. Это необходимо в связи с высокой чувствительностью активного элемента ( особенно рубина) твердотельного лазера к нагреву, что и ограничивает среднюю выходную мощность, несмотря на применяемое водяное охлаждение отражателя. Коэффициент полезного действия лазера на твердом теле очень мал ( 0 1 - 1 0 %); почти вся энергия, подводимая к лампе накачки, превращается в теплоту, которая нагревает активный элемент. [1]
 |
Оптическая схема - излучателя лазеров ЛТИ-501 и ЛТИ-502. [2] |
Длительность импульсов излучения при повышении частоты повторения монотонно увеличивается, так как накопленная инверсия в промежутках между импульсами становится меньше. Значения пиковой мо щности, приведенные на графике, рассчитаны по формуле Рцик Рео / / т по данным, определенным из эксперимента. [3]
Длительность импульса излучения твердотельных ОКГ с акустооптическим затвором определяется, с одной стороны, временем затухания колебаний в электроакустическом преобразователе, представляющем собой резонансную систему с собственным периодом затухания, а с другой стороны, временем распространения ультразвуковой волны через сечение пучка излучения. Время распространения t определяется как / rf / Ka, где d - диаметр пучка, Va - скорость распространения ультразвуковых колебаний. [4]
Когда длительность импульсов излучения накачки менее 100 пс, возможно возникновение модуляционной неустойчивости при действии других механизмов, при этом отпадает необходимость в спонтанной эмиссии или в сигнальном излучении. Одним из таких механизмов является ФСМ. Если уширение спектра за счет ФСМ приближается к Пмакс, то спектральные компоненты в окрестности Пмакс начинают действовать в качестве сигнального излучения, усиливаясь за счет модуляционной неустойчивости. Можно оценить длину светово - Да, на которой ширина спектра приближается к ПМакс. [6]
Когда длительность импульсов излучения накачки менее 100 пс, возможно возникновение модуляционной неустойчивости при действии других механизмов, при этом отпадает необходимость в спонтанной эмиссии или в сигнальном излучении. Одним из таких механизмов является ФСМ. Если уширение спектра за счет ФСМ приближается к П акс, то спектральные компоненты в окрестности Пма11С начинают действовать в качестве сигнального излучения, усиливаясь за счет модуляционной неустойчивости. [8]
Так как длительность импульса излучения Д / - Q / CY очень мала, необходимо знать скорость Р и положение r ( t) частицы лишь на малой дуге траектории, на которой касательная направлена приблизительно в точку наблюдения. Отрезок траектории и мгновенный радиус кривизны р лежат в плоскости ху. Начало отсчета времени выбрано так, чтобы при t - 0 частица находилась в начале координат. [9]
 |
Осциллограммы выходных сигналов в отсутствии ( а и при наличии дефекта расслоения ( б в композитном материале. [10] |
При этом, длительность импульса излучения акустической волны должна обеспечивать максимальное пространственное разрешение дефектов структуры. [11]
При данных условиях накачки длительность импульсов излучения ЗГ и УМ была одинакова и составляла около 30 не. [12]
Как следует из теоретических расчетов, длительность импульса излучения слабо зависит от скорости включения добротности резонатора, определяемой скоростью вращения призмы. Экспериментальными исследованиями установлено, что эта зависимость является более сильной. По-видимому, здесь сказывается неоднородность кристалла и неодинаковые условия его засветки при накачке, вследствие чего различные участки активного вещества имеют неодинаковую величину инверсной населенности и генерируют при разных значениях добротности резонатора. [13]
Пространственное разрешение и чувствительность рассмотренного метода определяются длительностью импульсов излучения, эффективностью преобразования состояния поляризации излучения при внешнем воздействии и разрешающей способностью электронной подсистемы. Следует отметить, что точность производимых измерений возрастает с увеличением времени усреднения результатов измерений. [14]
Специальные опыты были поставлены для проверки формы и длительности импульса излучения. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5