Спектральная аппаратура
Cтраница 3
Для проведения спектрального анализа наши заводы выпускают весьма совершенную спектральную аппаратуру. [31]
Этими особенностями вызваны и специфические требования к спектральной аппаратуре, необходимой для получения спектров комбинационного рассеяния, и к приемам регистрации этих спектров. [32]
Однако именно в связи с достигнутым уровнем совершенства спектральной аппаратуры на пути прецизионной количественной проверки теории возникают новые препятствия, связанные, во-первых, с трудностью получения монокристаллических образцов, лишенных самых незначительных нарушений, и, во-вторых, с недостаточно точными значениями некоторых фундаментальных параметров, вводимых в теоретические расчеты. [33]
Точность установки в значительной мере определяется возможностями самой спектральной аппаратуры. [34]
Зависимость предела обнаружения от параметров приемно-регистрирующей системы, спектральной аппаратуры и источника света подробно описана в следующих главах. Здесь же кратко рассмотрен этот вопрос в общем плане. [35]
 |
Поглощение излучения HF-лазера раэлвч ными газами. [36] |
Параметры линий поглощения, полученные ранее с помощью спектральной аппаратуры с разрешением не выше 0 1 - 0 01 см -, часто оказываются непригодными для использования в лазерной спектроскопии. Поэтому целый ряд исследований посвящен детальному изучению спектров поглощения атмосферных загрязнителей в диапазонах генерации наиболее распространенных лазеров. [37]
В основе многих источников света и электровакуумных узлов спектральной аппаратуры лежит электрический разряд - прохождение тока через воздух, атмосферу инертного газа или вакуум. [38]
Это явление легло в основу рентгево-спектральных методов ( см. Рентгеновская спектральная аппаратура), а также методов рентгеновской топографии. Кристаллы СО структурой, близкой к идеальной, имеют наиб, высокую разрешающую силу tlkf ( t - энергия рентг. [39]
Зависимость предела обнаружения от параметров приемке регистрирующей системы, спектральной аппаратуры и источника света подробно описана в следующих главах. Здесь же кратко рассмотрен этот вопрос в общем плане. [40]
Книга рассчитана на специалистов, занимающихся разработкой и применением спектральной аппаратуры. [41]
Многообещающи перспективы развития методов колебательной спектроскопии, открываемые совершенствованием спектральной аппаратуры и появлением принципиально новой экспериментальной техники. Имеется в виду прежде всего увеличение спектрального разрешения приборов, повышение чувствительности методов и возможность автоматизации получения и обработки данных в единой системе с ЭВМ. [42]
Разрешающая способность локального нелинейного спектрографа при использовании достаточно высокоразрешающей спектральной аппаратуры видимого диапазона определяется шириной спектра накачки [117, 236] и при использовании стабилизированных одночастотных лазеров накачки может быть существенно выше, чем для интегрирующего спектрографа. [43]
В качестве примера рассмотрим более подробно, какие требования к спектральной аппаратуре возникают в связи с задачами атмосферного зондирования. [44]
В отличие от обычного спектрального анализа для определения изотопного состава необходима спектральная аппаратура более высокой разрешающей силы. Даже в случае водорода и дейтерия, когда изотопическое смещение для линий Бальмера достигает 1 8А, приходится пользоваться спектрографом с дисперсией порядка 12А / лш. Для изотопного анализа других элементов требуются либо приборы с еще большей дисперсией ( 1 - 2 А / мм), либо интерферометры Фабри - Перо, скрещенные с подходящим спектрографом. В целях наилучшего разрешения узких изотопических структур в ряде случаев приходится прибегать к специальным источникам возбуждения, которые обеспечивают лолучение узких спектральных линий. [45]
Страницы: 1 2 3 4