Фотоэлектрическая аппаратура

Cтраница 2

Широкий круг вопросов, решаемых посредством фотоэлектрических методов, приводит к большому разнообразию требований, предъявляемых к фотоэлектрической аппаратуре. При электрофотометрии спектра Солнца 3 4 ] приходится иметь дело со сравнительно большими световыми потоками, которые могут быть измерены простейшей современной аппаратурой. Однако точность измерений при этом должна достигать десятых долей процента. Для достижения такой степени точности измерений систематические ошибки, возникающие из-за колебаний прозрачности атмосферы, должны быть исключены, а темновой ток фотоумножителя должен быть сравнительно малым и стабильным. [16]

Значения некоторых основных физических постоянных ( по данным на декабрь 1950 г..| Световые величины и их размерности.| Яркостные и цветовые температуры ( К вольфрама.| Спектральная излучательная способность вольфрама при различных абсолютных температурах.| Кривые видности глаза.| Цветовые температуры некоторых источников излучения.| Коэффициенты отражения, пропускания и поглощения различных веществ и сред.| Коэффициенты направленного ( зеркального и рассеянного ( диффузного отражения некоторых материалов.| Приблизительные значения коротковолновой границы пропускания разных материалов.| Характеристики некоторых светофильтров, изготавливаемых в СССР.| Зависимость коэффициента прозрачности атмосферы от ее состояния. [17]

Для облегчения работы при практическом использовании настоящей книги в приложениях приводится ряд таблиц, содержащих некоторые данные, необходимые при расчете фотоэлектрической аппаратуры. [18]

Как будет показано далее, анализ погрешностей при пользовании фотоэлектрической аппаратурой спектрального анализа заставляет считать, что основные причины погрешностей лежат не в фотоэлектрической аппаратуре, а в источниках возбуждения. [19]

Отсюда мы видим, что точность измерения и разрешающая способность регистрирующей спектральной аппаратуры существенным образом зависят от скорости развертывания спектра, величины измеряемого потока и чувствительности фотоэлектрической аппаратуры. [20]

Ниже рассматриваются электрические помехи, создаваемые внутренними источниками электрических флюктуации, и для этого случая определены средний квадрат суммарного флюктуационного напряжения, отношение напряжения сигнала к напряжению помехи и порог чувствительности фотоэлектрической аппаратуры, основанной на применении фотоумножителей. [21]

Схема расположения сферического зеркала при из мерении яркостнои температуры. [22]

Определение действительной температуры пламени по его яркостнои температуре и коэффициенту черноты излучения производится обычным способом. Для измерения яркостных температур нестационарных пламен требуется быстродействующая фотоэлектрическая аппаратура. [23]

Таким образом, для сохранения точности измерения в нормальных пределах, с увеличением скорости развертывания необходимо существенно уменьшить постоянную времени системы. Однако уменьшение постоянной времени ведет к ухудшению чувствительности фотоэлектрической аппаратуры за счет увеличения полосы усиливаемых частот. Последнее приводит к возрастанию уровня шумов, а следовательно, к уменьшению отношения сигнала к шуму. Если при этом измеряемый световой поток слаб, то увеличение отношения сигнала к шуму можно достичь за счет увеличения мощности источника света, возбуждающего спектр, светосилы монохроматора по потоку или путем увеличения ширины щелей. [24]

Градуировочные кривые для молибдена, содержащегося в железном сплаве. Кривые показывают роль фона при использовании в качестве источников возбуждения искры и дуги. [25]

Как дуга, так и искра являются мощными источниками электрических помех. Методы борьбы с этими помехами являются обычными в подобных случаях [ п - 18 ] - максимальное подавление интенсивности помехи, ограничение ее по спектру, применение тщательной экранировки как источника возбуждения ( помехи), так и фотоэлектрической аппаратуры, применение фильтров в цепях питания, а также питание источника возбуждения и фотоэлектрической аппаратуры от отдельных источников. [26]

К основным недостаткам фотоэлектрических методов относятся чувствительность к посторонним источникам излучения, недостаточная стабильность и надежность. Первый из этих недостатков в значительной степени устраняется использованием модуляции и светофильтров, а второй и третий - применением частотных, фазовых или импульсных систем, которые также связаны с использованием модуляции. Низкие стабильность и надежность фотоэлектрической аппаратуры в ряде случаев объясняются выбором нерациональных при заданных условиях методов измерений и режимов работы фотоэлементов, что является следствием недостаточного знания свойств последних. [28]

Константа скорости квадратичного обрыва цепей в реакциях окисления органических соединений может быть определена с помощью методов, основанных на измерении хемилюминесценции, сопровождающей эти реакции. Свечение, возникающее при окислении органических веществ в жидкой фазе, обусловлено рекомбинацией перекисных радикалов RO2 и наблюдается в видимой области спектра при 400 - 600 ммк. Интенсивность хемилюминесценции очень мала, и ее можно измерять с помощью высокочувствительной фотоэлектрической аппаратуры. [29]

Одновременно с достаточным усилением фототока, соответствующего измеряемым линиям, крайне важным является снижение в измерительной схеме электрических флюктуации. Вначале рассмотрим несколько работ, основанных на применении схем усилителей постоянного тока. Следует отметить, что усиление постоянного тока осуществлялось не только на ранних стадиях применения умножителей в фотоэлектрической аппаратуре комбинационного рассеяния света, но и в самые последние годы. В более совершенных, но обладающих более сложной электрической схемой установках применены резонансное усиление переменного тока и синхронное детектирование. [30]

Страницы: 1 2 3