Аберрация - оптическая система
Cтраница 3
Ввиду того, что разрешающая способность волоконного элемента зависит также от разрешающей способности глаза или аберраций применяемых оптических систем, необходимо оговорить методику определения этой характеристики. В принятой методике предел разрешения оптической волоконной системы определяется тем элементом миры с наибольшим числом лин / мм, для которого в четырех квадратах, соответствующих различным направлениям штрихов, штрихи наблюдаются раздельно и четко определяется их направление. [31]
Эта область применения топографических решеток еще не изучена, методы расчета условий записи решеток, компенсирующих аберрации оптических систем, почти не разработаны. Развитие данного направления может оказаться перспективным для создания новых спектральных приборов с улучшенными характеристиками. [32]
Опираясь на это свойство пересчета частотно-контрастных характеристик, можно составить сравнительно небольшой их каталог для основных видов аберраций оптических систем. [33]
Реальная разрешающая способность зависит от ширины входной щели, разрешающей способности, приемника излучения, зернистости фотоэмульсии и аберраций оптической системы. [34]
Таким образом, выгода применения схем с многократным прохождением света через диспергирующий элемент может быть значительной лишь при малых аберрациях оптической системы спектрального прибора. При этом и требования к точности изготовления оптических деталей должны быть более высокими, чем в приборах с однократной дисперсией. [35]
 |
Схема получения голограммы. [36] |
С помощью голографических методов удается восстанавливать световую волну, содержащую информацию о фазовых неоднород-ностях исследуемого объекта и свободную от аберраций оптической системы. Тем самым упрощается процесс количественной расшифровки и повышается точность полученных результатов. [37]
Строго говоря, подобное соответствие возможно лишь в идеальных оптич, системах при условии, что устранены все аберрации ( см. Аберрации оптических систем) и можно пренебречь волновыми свойствами света, в частности дифракцией света. [38]
 |
Схемы автоколлимационных зеркальных монохроматоров. а - с призмой 6 - с плоской решеткой. [39] |
Ширина а параллельных пучков до и после дисперсии одинакова, так что меридиональное увеличение призмы или решетки равно 1, и аберрации оптической системы равны удвоенным аберрациям зеркала для параллельных пучков, а диспергирующее устройство вызывает лишь искривление спектральных линий. Когда объективом служит сферическое зеркало, а падающий и отраженный лучи в вершине зеркала О образуют между собой угол а, суммарные аберрации системы в направлении дисперсии ( 6z /) меньше всего, когда щель и ее изображение находятся в меридиональном астигматическом фокусе, на расстоянии А - / а2 / 4 от гауссовой плоскости по направлению к зеркалу. [40]
Ширина а параллельных пучков до и после дисперсии одинакова, так что меридиональное увеличение призмы или решетки равно единице, и аберрации оптической системы равны удвоенным аберрациям зеркала для параллельных пучков, а диспергирующее устройство вызывает лишь искривление спектральных линий. [41]
Недостатки этого метода - относительно низкая точность ( 5 мк) и быстрая утомляемость оператора; кроме того, вследствие явления аберрации оптической системы измерение возможно в небольшом диапазоне. [42]
В ряде случаев более удобным и более наглядным оказывается метод, построенный на базе волновой теории света; в частности, использование волновой теории света выгодно при изучении аберраций оптической системы. [43]
Теоретической разрешающей силой обладает спектрометр, чувствительность приемника которого позволяет фиксировать разность энергий между двумя дифракционными изображениями с угловым расстоянием а, при условии, что изображение не искажено аберрациями оптической системы, дефектами изготовления и неточностями юстировки. [44]
В учебнике излагаются основные понятия о методах оптических измерений и возникающих при этом погрешностях, рассмотрены методы определения основных оптических характеристик и качества оптического изображения систем; Значительное место уделено способам контроля оптических материалов и методам измерения аберраций оптических систем, применяемых в оптико-механической промышленности. Недра, 1968) в некоторые разделы книги внесены изменения. [45]
Страницы: 1 2 3 4