Остаточная аберрация

Cтраница 1

Остаточные аберрации для точки, лежащей на оси, в основном представляют собой сферическую аберрацию. Как обычно, расчет ведется для высоты h пересечения луча с поверхностью линзы относительно оптической оси. [1]

Основная остаточная аберрация представляет собой сумму кривизны Пецваля и астигматизма; это подтверждается тем обстоятельством, что диаметр кружка рассеяния растет как квадрат угла поля зрения. [2]

Конструктивные иенкнты обмпям. [3]

Небольшая остаточная аберрация, вызываемая последней линзой, может быть отчасти устранена весьма незначительным изменением расстояния предмета от объектива. [4]

Остаточная аберрация линзы зависит, в основном, от сферической, комы и хроматической аберраций. [5]

Все рассмотренные остаточные аберрации, которыми обладает взятая в качестве примера линза, исправляются. [6]

Оптическая схема укороченного трехлиизового объектива ( Р Ю при Д 0 15. [7]

В результате остаточные аберрации укороченного объектива существенно возрастают и его рабочее поле начинает уменьшаться по сравнению с пропорциональным объективом, а точка компенсации комы - приближаться к оси системы. Практика расчетов показывает, что при 3 - 10 длину объектива по сравнению с пропорциональной схемой можно уменьшить более чем в 4 5 раза ( А 0 15) без существенного ухудшения оптических характеристик, тогда как дальнейшее уменьшение расстояния между элементами длиннофокусного дублета нецелесообразно. Оптическая схема трехлин-зового объектива при Л 0 15 приведена на рис. 4.7, там же для сравнения дана схема пропорционального объектива с теми же фокусными расстояниями дублетов. [8]

Приемлемого уровня остаточных аберраций высших порядков у рефракционного объектива, не содержащего к тому же сложных для изготовления асферических поверхностей, достигают лишь тогда, когда число преломляющих поверхностей превышает число компенсируемых первичных аберраций. [9]

Графическая интерпретация эффекта световозвращения.| Пространственно-частотные характеристики идеального СВ. [10]

Реальные оптические системы СВИД обладают остаточными аберрациями, что приводит к уширению индикатрисы отражения, которое связано с размером функции рассеяния. Обычно размер функции рассеяния не превышает размера а одного пиксела ПЗС-матрицы. [11]

График перемещений точек поверхностей выпуклых линз при изменении температуры. [12]

В оптике хорошо разработана методика расчета остаточных аберраций [1; 50; 58; 66], которую целесообразно использовать. Полученные расчетные данные, характеризующие искажения поверхностей линз, дают возможность рассмотреть возникающие аберрации на конкретных примерах. [13]

Этот прием обычно позволяет значительно уменьшить значения остаточных аберраций. [14]

В табл. 19 - 21 приведены расчеты остаточных аберраций для этой оптической системы без учета влияния температуры. [15]

Страницы: 1 2 3 4