Контур - линия - поглощение
Cтраница 3
Выбранные нами ( из соображений удобства и простоты вычисления свертки) формы контура линии поглощения и инструментального контура близки к часто встречающимся на практике. Полученный результат приближенно применим и к контурам другой формы. [31]
При температурах 1000 - 3000 К и давлениях постороннего газа около 1 атм контур линий поглощения определяется в основном суммарным действием допплеровского и лорентцевского эффектов. [32]
Незначительная асимметрия в положении и интенсивности компонент, по-видимому, происходит от некоторой асимметрии контуров линий поглощения. [33]
В качестве примера использования полученных выше результатов решим весьма важную для астрофизики задачу о контурах линий поглощения в звездных спектрах. При этом будем считать, что диффузия излучения в спектральной линии происходит без изменения частоты. Такое предположение является обычным для теории образования линий поглощения. [34]
Таким образом, независимо от условий эксперимента и причин, обусловливающих ту или иную форму контура линии поглощения, интегральный коэффициент поглощения непосредственно связан только с произведением Nf. В том случае, когда одна из этих величин известна, представляется возможность измерения другой величины. [35]
Выбранные нами в этом примере ( из соображений удобства и простоты вычисления свертки) формы контура линии поглощения и инструментального контура близки к часто встречающимся на практике. Полученный результат приближенно применим и к контурам другой формы. [36]
Именно это выражение для функции Q ( V, v) мы используем в дальнейшем при нахождении контуров линий поглощения в звездных спектрах. [37]
 |
Схема установки для измерения эквивалентной ширины спектральной линии по методу широкой щели. [38] |
Второй упрощенный метод определения эквивалентной ширины линии, так называемый метод широкой щели [13.3], не требует интегрирования контуров линий поглощения. В этом случае используется независимость измеренной величины А от разрешающей способности прибора. Операция интегрирования световых потоков по контуру линии проводится широкой выходной щелью монохроматора, через которую на фотоэлектрический приемник попадает участок сплошного спектра с линией поглощения в середине. [39]
Изменение давления вблизи 1 атм вообще оказывает значительно меньшее влияние на величину поглощения, чем при повышенном давлении, так как контур линии поглощения при атмосферном давлении определяется лорентцевским и допплеровским эффектами. [40]
Если поперечное сечение атомизатора имеет ограниченную площадь, то плотность падающего излучения, или темп поступления фотонов на 1 см2, для длин волн в пределах контура линии поглощения может стать настолько высокой, что произойдет уменьшение коэффициента поглощения, а значит, и изменение наклона и формы градуировочного графика. Рассмотрим теперь более подробно влияние плотности падающего лазерного излучения на коэффициент поглощения. [41]
Если две волны проходят одновременно через газообразный образец в противоположных направлениях, коэффициент поглощения a ( v) будет иметь небольшой провал ( рис. 5.9 6), называемый провалом Лэмба [126], в центре контура линии поглощения с доплеровским уширением. [42]
Этот результат физически очевиден, так как на больших расстояниях от центра линии допплеровское смещение может иметь место только для ядер, двигающихся с большими скоростями; но число таких ядер относительно мало, поэтому эффект Допплера не оказывает влияния на далекие крылья контура линии поглощения. [43]
В ( методе линейчатого поглощения измеряется уменьшение яркости отдельных Спектральных линий при прохождении излучения через поглощающий сосуд, определяется относительная величина поглощения. Если имеются данные о контурах линии поглощения и линии попу акания, то удается найти коэффициент поглощения IB центре линии, зная который, можно - определить силу осциллятора линии поглощения, если известна концентрация атомов на нижнем уровне. [44]
Коэффициент поглощения является основной характеристикой, описывающей свойства линий поглощения, подобно понятию интенсивности в эмиссионной спектроскопии. Законы распределения коэффициента поглощения по контуру линий поглощения аналогичны законам распределения интенсивности по контуру линий испускания. Сила линий, разделение их на более сильные и более слабые, применяемое в эмиссионной спектроскопии с точки зрения их интегральной интенсивности, в равной степени относится и к интегральному коэффициенту поглощения для линий поглощения. [45]
Страницы: 1 2 3 4