Критическая концентрация - мицеллообразование
Cтраница 1
Критическая концентрация мицеллообразования ( ККМ) - важнейший параметр мицеллярных растворов. Учитывая важность этой величины и встречающееся иногда неправильное ее толкование, мы обсудим этот вопрос более подробно. В целом рекомендации основаны на ранних работах Хартли, который сопоставил ряд противоречивых точек зрения. Многие исследователи отмечали, что образование мицелл начинается или становится заметным выше некоторой области концентрации. [1]
Критическая концентрация мицеллообразования ( ККМ) характеризует одно из важнейших свойств поверхностно-активных веществ - образование мицеллярных растворов. Она является энергетической характеристикой равновесия ассоциации молекул ПАВ в растворе. Поэтому определение ККМ важно как для технологических целей, так и для коллоидно-химического изучения структуры растворов ПАВ. [2]
Критическая концентрация мицеллообразования является важнейшей характеристикой ионогенных ПАВ. При ее достижении физическое состояние растворов ПАВ изменяется скачкообразно. При дальнейшем повышении концентрации ПАВ в растворе резкое изменение свойств последнего наблюдается обычно еще несколько раз, что дает основание говорить о второй ( и последующих) критических концентрациях мицеллообразования. [3]
Критическая концентрация мицеллообразования может быть определена множеством разнообразных методов, но лишь некоторые из них, чувствительные к способу агрегации ПАВ, пригодны для определения ККМ. В число популярных методов определения ККМ входят методы поверхностного натяжения, турбидиметрии, самодиффузии, проводимости, осмотического давления, солюбилизации, метод ПАВ-селективных электродов и флуоресцетный метод. Практически все они включают в себя построение зависимости получаемой величины от концентрации ПАВ или логарифмической функции концентрации ПАВ. [4]
Критическая концентрация мицеллообразования для рассмотренных эмульгаторов составляет: 0 16 вес. [5]
Критическая концентрация мицеллообразования ПАВ зависит от строения их молекул ( уменьшается с увеличением длины цепи углеводородного радикала), от природы, числа и расположения ионогенных групп и наличия ненасыщенных связей в молекуле ПАВ. [6]
Критическая концентрация мицеллообразования неионоген-ных веществ возрастает с понижением температуры, что обусловлено понижением растворимости этих соединений с повышением температуры. [7]
Критическая концентрация мицеллообразования растворов вторичных гексадецилсульфатов натрия повышается по мере перемещения полярной группы к центру молекулы. [8]
Ниже критической концентрации мицеллообразования ( CKKM 1 4 - 10 - 4 молъ / л) равновесная толщина пленки между капельками масла, измеренная при постоянной концентрации электролита, уменьшается с повышением количества ПАВ. Это означает, что дисперсионные силы растут с развитием адсорбционного слоя. [9]
Выше критической концентрации мицеллообразования ПАВ в водных растворах начинается агрегация молекул и образуются мицеллы. [10]
Выше критической концентрации мицеллообразования молекулы ПАВ образуют коллоидные агрегаты, и селективность [ Мембраны резко возрастает. Выход кривых селективности и проницаемости на максимальные постоянные значения свидетельствует о том, что в разделяемом растворе не осталось свободных молекул разделяемых веществ, не вошедших в состав мицелл. [12]
 |
Определение критической концентрации мицеллообразования методом измерения поверхностного натяжения. [13] |
Критическую концентрацию мицеллообразования анион - активных веществ определяют по данным измерения эквивалентной электропроводности. [14]
Критическую концентрацию мицеллообразования определяют путем измерения одного из претерпевающих изменение свойств раствора в зависимости от изменения концентрации его. Сюда относятся измерения поверхностного натяжения, коэффициента рефракции, осмотического давления, вязкости, электропроводности, солюбилизации, изменения спектральной характеристики. [15]
Страницы: 1 2 3 4