Cтраница 2
В случае, когда ядро непрерывно, часто удобно пользоваться более грубым, но легко проверяемым критерием малости А. [16]
Отношение а / /, согласно сказанному выше, считаем малым; его величина служит критерием малости перемещений. [17]
Физически эффект Мейсснера означает, что у сверхпроводника, помещенного в не очень сильное магнитное поле ( критерий малости магнитного поля мы рассмотрим позднее), в поверхностном слое наводятся незатухающие круговые токи, которые в точности компенсируют внешнее приложенное поле. Кажется, что это эквивалентно привычным токам Фуко, возникающим в металле ( в данном случае с идеальной проводимостью) при переменном внешнем поле, иначе говоря, что сверхпроводник это просто металл с нулевым удельным сопротивлением. [18]
Следует отметить, что такое требование соответствует многолетней метрологической практике [ 10; 20; 7 по выбору критерия малости погрешностей измерения. [19]
В процессе выявления первичных ошибок рекомендуется делать предварительную оценку степени их влияния на точность механизма, пользуясь для этого критериями малости ошибок. [20]
Главная, возможно даже единственная, слабость обратной итерации-это то, что вычисленные векторы для двух близких собственных значений могут быть приемлемы ( по критерию малости их невязок) и все же не быть взаимно ортогональными. Это звучит как противоречие, поскольку точные собственные векторы должны быть ортогональны. Однако малый вектор невязки rk гарантирует точность лишь в случае изолированных собственных значений, как показывают теоремы гл. [21]
Разница заключается только в том, что энергия насыщения, входящая в эти формулы в качестве параметра, увеличивается при переходе от однородно уширенной среды к неоднородно уширенной; изменяется, следовательно, критерий малости сигнала. [22]
![]() |
Ключ с общей базой ( а и графики, поясняющие условия насыщения транзистора с общим эмиттером ( б. [23] |
В области отсечки токи электродов транзистора весьма малы. Критерии малости тока на практике могут быть различны, и о них приходится уславливаться в каждом конкретном случае, поэтому понятие запертый транзистор не однозначно. [24]
Дифференциальными параметрами называют величины, связывающие малые приращения токов и напряжений в электронном приборе. Критерием малости приращений является наличие линейной зависимости между ними, иначе говоря, независимость параметров от величины приращений. [25]
Следует помнить, что формулы (4.31) - (4.33) годятся лишь в случае малых масштабов корреляции. Критерием малости последних может быть малость безразмерной дисперсии решения по сравнению с единицей. Как будет показано далее, критерий этот выполняется в довольно широком диапазоне изменения параметров задачи. [26]
Из (3.3) следует, что введение в коллекторную цепь транзистора ОЭ небольшого активного сопротивления лишь увеличивает постоянную времени его экспоненциальной переходной характеристики, изменяющуюся с величины Тр до величины трйтр RHCK. Критерием малости сопротивления нагрузки является соблюдение неравенства /, гДе гк определяется наклоном выходных характеристик транзистора в схеме ОЭ. [27]
Показать, что период обращения заряженной частицы в однородном магнитном поле не зависит при малых энергиях от величины самой энергии. Что при этом служит критерием малости энергии. [28]
Следовательно, выражение ( 32) является условием асимптотической мощности критерия отношения правдоподобия. Это требование совпадает с требованием ( 27), использованным при оценке критерия малости погрешности. [29]
Характеристики погрешностей измерений представляют собой показатели степени доверия к полученным результатам измерений. Поэтому нет оснований считать, что при технических измерениях могут применяться два разных критерия пренебрежимой малости для разных видов составляющих погрешности измерений. [30]