Критерий - малость
Cтраница 3
Объем вычислений можно резко уменьшить, выделив пренебрежимо малые поддиагональные элементы. Однако трудно предложить удовлетворительный критерий степени малости, так как в данном случае необходим не столько тщательно отработанный критерий малости поддиагонального элемента, сколько способ достаточно точного вычисления малых собственных значений. [31]
Возникает трудность, очень типичная для физики и связанная с тем, что функция / неизвестна. Это решение даст нам порядок величин и, v, D, что позволит разложить уравнение (11.96) и оставить в нем лишь главные члены, коль скоро будет введен критерий малости. Далее будет видно, что таким путем действительно можно вывести уравнение вида (10.157) при условиях, близких к пороговым, так что в целом наша процедура является самосогласованной. [32]
В ( г, О и случайную B5j ( r, О составляющие. Критерий малости зависит от соотношения между ларморовым радиусом частицы в регулярном поле К ср / еВ и корреляционной длиной LQ случайного поля. [33]
 |
Остовные, валентная и псевдовалентные s - орбитали атома К. [34] |
Кроме гладкой безузловой псевдовалентной орбитали строят и другие линейные комбинации. В молекулярных расчетах полезны такие псевдовалентные орбитали, которые малы в области остова. Критерии малости в области остова, так же как и критерии гладкости, могут быть разными. [35]
Транзистор используется в основном как активный элемент для усиления электрических сигналов по мощности. Поскольку усили - Еаемый сигнал очень часто имеет малые значения тока И напряжения, большое практическое применение будут иметь электрические параметры транзистора, которые характеризовали бы связь между малыми изменениями токов и напряжений входных и выходных вольт-амперных характеристик. Критерием малости токов и напряжений является линейность связи между ними, если отдельные участки вольт-амперной характеристики заменить гипотенузой характеристического треугольника ( см. § 3.4), построенного в окрестностях рабочей точки. [36]
Транзистор используют в основном как активный элемент для усиления электрических сигналов по мощности. Поскольку усиливаемый сигнал очень часто имеет малые значения тока и напряжения, большое практическое применение будут иметь электрические параметры транзистора, которые характеризовали бы связь между малыми изменениями токов и напряжений входных и выходных вольт-амперных характеристик. Критерием малости токов и напряжений служит линейность связи между ними, если отдельные участки вольт-амперной характеристики заменить гипотенузой характеристического треугольника ( см. раздел 3.4), построенного в окрестностях рабочей точки. [37]
Предположение о малости перемещения и поворотов влечет соблюдение малости удлинений и сдвигов. Однако обратное утверждение несправедливо. В то же время существует только общее рассуждение о критерии малости перемещений относительно линейного размера тела. Есть основание полагать, что для тел с микроструктурой необходимо сравнивать перемещения с размерами структурных элементов. Подчеркнем, что в основе классической теории малых деформаций лежит допущение о малости поворотов и перемещений. Если в основу положить малость удлинений и сдвигов по сравнению с единицей, то перемещения и повороты могут быть значительны. [38]
Когда мы говорим, что пластинка является тонкой, то подразумевается, что ее толщина мала по сравнению с размерами в двух других направлениях. Самые деформации по-прежнему считаются малыми. В данном случае критерием малости деформации является малость смещений точек пластинки по сравнению с ее толщиной. [39]
Когда мы говорим, что пластинка является тонкой, то подразумевается, что ее толщина мала по сравнению с размерами в двух других направлениях. Сами деформации по-прежнему считаются малыми. В данном случае критерием малости деформации является малость смещений точек пластинки по сравнению с ее толщиной. [40]
Когда мы говорим, что пластинка является тонкой, то подразумевается, что ее толщина мала по сравнению с размерами в двух других направлениях. Самые деформации по-прежнему считаются малыми. В данном случае критерием малости деформации является малость смещений точек пластинки по сравнению с ее толщиной. [41]
Индекс Э указывает на принадлежность величины к эквимолярной поверхности. В термодинамике малых одно-компонентных систем чаще пользуются поверхностью натяжения. В этом случае запись соотношений упрощается ( ср. Для очень малых пузырьков или капелек нужно считаться с возможностью изменения поверхностного натяжения по сравнению с плоской и слабо искривленной границей раздела. Но существующая теория поверхностных явлений не предсказывает вида зависимости о а ( г) и не дает критерия малости системы. Априори нельзя сказать, допустимо ли при описании спонтанного зародышеобразования использовать обычное поверхностное натяжение. [42]
Страницы: 1 2 3