Cтраница 1
Линзы микроскопа располагаются непременно так, чтобы при определенной для данной системы длине механического тубуса оптическая длина тубуса Д имела определенное значение; эта величина всегда довольно близка к механической длине тубуса. [1]
Для получения большого увеличения линзы микроскопа должны быть по возможности короткофокусными. Фокусное расстояние объектива может достигать десятых долей миллиметра. [2]
Свет, освещающий объект, попадает на линзу микроскопа, претерпев рассеяние ( дифракцию) на деталях объекта, так что структура светового пучка зависит от этого объекта. [3]
![]() |
К дифракционной теории микроскопа Аббе ( масштаб рисунка искажен - расстояние от FF до Р % Р-2 значительно больше фокусного расстояния объектива. [4] |
Свет, освещающий объект, попадает на линзу микроскопа, претерпев рассеяние ( дифракцию) на деталях объекта, так что структура светового пучка зависит от этого объекта. Рассмотрим для простоты случай, когда освещение производится параллельным пучком ( дифракция Фраунгофера), а объект имеет простую форму1), например, представляет собой правильную решетку, т.е. последовательность прозрачных полосок, разделенных непрозрачными. [5]
После достижения рабочего вакуума включают осветительную систему и линзы микроскопа. В начале наблюдения в течение 2 - 4 мин исследуемый препарат освещают электронным пучком небольшой интенсивности. [6]
![]() |
Неопределенность положения электрона. [7] |
Хотя после столкновения отраженный фотон имеет импульс отличный от А / Х, тем не менее он еще будет проходить через линзу микроскопа и направляться в фокус при условии, если импульс лежит в пределах от ( 1 - sin6) A / X до ( 1 - f - sin6) A / X. Таким образом, очевидно, что перенос от фотона к электрону импульса, величина которого меньше, чемнЬ ( 5 пв) А / Х, не может быть обнаружен микроскопом. [8]
![]() |
Схема, иллюстрирующая возникновение контраста возле краевой дислокации. [9] |
Для достижения высокого разрешения используют стигма-торы - специальные электронные линзы, исправляющие астигматизм объектива, и электрические схемы, обеспечивающие высокую стабильность ускоряющего напряжения и токов в обмотках линз микроскопа. Для микроскопов I класса характерным является использование высокого ускоряющего напряжения ( 100 кв) 1, что важно при прямых исследованиях кристаллических объектов. Для фокусировки при фотографировании, а также юстировки прибора дополнительно используют сильные лупы, позволяющие наблюдать изображения на экране микроскопа при больших увеличениях. Фотографируют обычно при меньших увеличениях, но при печати дополнительно увеличивают изображение. [10]
![]() |
Инструменты для работы с пленками и сеточками. [11] |
Перечисленные факторы могут в той или иной мере сказаться и на качестве электро-нограмм, получаемых в электронном микроскопе, в особенности при микродифракционной съемке, в которой участвуют все линзы микроскопа. [12]
Край предметного стекла должен иметь резкое изображение, остальное поле должно быть пустым. Резкость изображения будет страдать, если на линзах микроскопа имеется грязь; край стекла будет казаться несколько расплывчатым или затуманенным, причем улучшить изображение регулировкой фокусировки нельзя. [13]
![]() |
Соединение лупы с зрительной трубой. [14] |
Используемая в микроскопе зрительная труба, конечно, отличается от обычной, так как здесь она должна работать в широкоугольных пучках лучей и поэтому требует особых мер исправления тех или иных аберраций для получения хорошего изображения. При этом принимаются меры и для компенсации аберраций, возникающих в фронтальной полушаровой линзе микроскопа, играющей роль лупы. [15]