Cтраница 2
Если же это невозможно, то кристалл может быть уменьшен до нужной величины путем погружения в каплю растворителя на столике микроскопа, после чего его вынимают из растворителя. Однако эту процедуру следует проводить с осторожностью, так как летучие растворители могут повредить линзы микроскопа. [16]
Пусть требуется измерить положение частицы; освещая ее светом длиной волны X и наблюдая через линзу микроскопа, можно найти положение этой частицы с точностью, установленной законами оптики. [17]
Такой микроскоп дает увеличенное изображение поверхности катода на экране в свете испускаемых им электронов. Как и в оптическом микроскопе в электронном микроскопе каждой точке катода, испускающей пучок электронов, соответствует точка изображения, в которой линзы микроскопа сводят этот пучок. Увеличение электронного микроскопа можно в больших пределах менять, изменяя ток в катушках линз, что выгодно отличает этот микроскоп от оптического микроскопа. [18]
Электроннооптическая схема микроскопа вполне позволяет использовать его в качестве электронографа. Действительно, его осветительная система предназначена, для создания тонкого моноэнергетического пучка и облучения им предмета, а дифракционнное изображение, увеличенное линзами микроскопа, может наблюдаться на конечном экране или фотографироваться на пластинке. [19]
Таким образом, зеркальные ( и зеркально-линзовые, в которых линзы играют лишь роль компенсаторов аберрации) системы имеют по сравнению с линзовыми то преимущество, что в них возможно полное исправление хроматических аберраций при любых фокусных расстояниях н апертурах системы. Это преимущество оказалось полезным н для объективов микроскопа с большой апертурой, хотя здесь исправление хроматической аберрации не представляет больших затруднений благодаря тому, что малые размеры линз микроскопа позволяют применять любые стекла н даже кристаллы. [20]
Если частица представляет собой электрон, то при этих условиях должен проявляться значительный эффект Комптона. В результате столкновения фотона с электроном, первый, как указывалось выше, отклонится от своего пути, а второй приобретет дополнительный импульс. Если после столкновения величина утла рассеивания фотона лежит в определенных пределах, то фотон будет все же проходить в линзу микроскопа и направляться в фокус. Эта неопределенность в величине угла рассеивания обусловливает соответствующую неопределенность в изменении импульса электрона, несмотря на то, что последний тем не менее может быть обнаружен микро - скопом. [21]
Таким образом, пора имеет два отверстия: наружное там, где срединная пластинка проходит через куполообразную камеру поры, и внутреннее, выходящее в полость клетки. Внутреннее отверстие на радиальной плоскости пои продольном разрезе может быть овальным или линейным; в последнем случае оно может пересечь круглый контур поры, причем круг указывает на площадь поры у сложной срединной пластинки. Когда пары пор с приплюснутыми отверстиями рассматриваются в продольном разрезе на прозрачных срезах древесины, которые предварительно окрашиваются, то внутри границ круга, или пересекая их, видна Х - образная фигура, что вызывается колебанием фокуса линз микроскопа на той стороне срединной пластинки, которая обращена к наблюдателю. Размеры отверстия увеличиваются справа налево, тогда как противоположное изменение происходит на другой стороне сложной пластинки, отделяющей полости двух рассматриваемых клеток. Дальнейшее обсуждение изменений, встречающихся в парах пор, в данном случае не относится к делу; следует лишь указать, что они продолжают существовать и после того, как клетки теряют свой протопласт; поры, очевидно, функционируют до тех пор, пока находятся в заболони, и служат путями, по которым через клетки проходит сок. [22]
В других случаях конструктор должен определить геометрию прибора с максимальной точностью, так как в руках работающего с готовым прибором уже не будет возможностей исправить его ошибки с помощью подбора напряжений на электродах или токов в обмотках. Примером может служить расчет линз электронного микроскопа. Если поле линзы имеет, например, большую сферическую аберрацию вследствие неудачного выбора формы диафрагм, их толщины и расстояний между ними, то разрешающая сила будет невелика и устранить этот дефект изменением напряжения на линзе уже не удается. Для правильного расчета линз микроскопа требуется очень точное построение электронных траекторий. [23]
В качестве источника света используется либо кинопроекционная лампа мощностью 90 em, либо Не - А е-лазер ОКГ-13 с длиной волны К 6328 А, в зависимости от площади изучаемого участка пленки. Луч лазера, составляющий в диаметре 0 6 мм, может быть сфокусирован на пленке в пятно диаметром 0 025 мм. Тубусы микроскопа были заменены тубусами из немагнитного материала. Оптическая система микроскопа оставлена почти без изменения. Поляризационные фильтры типа ПФ-36 используются в качестве поляризатора П и анализатора А и для исключения деполяризующего воздействия линз микроскопа в оптической схеме размещаются непосредственно у пленки. Предметный столик микроскопа обеспечивает сканирование светового луча по площади 20 X 20 мм2 с точностью отсчета перемещений до 0 005 мм. [24]
Для юстировки микроскопа поступают следующим образом. Перед микроскопом помещают осветитель и регулируют вогнутое зеркало, отражающее свет через отверстие в столике на фронтальную линзу объектива. Диафрагму конденсора открывают как можно шире. При работе с естественным светом поступают так же, предварительно определив, какая сторона зеркала ( вогнутая или плоская) дает более сильное освещение. Медленно смотря сбоку на объектив, опускают тубус примерно до половины рабочего расстояния объектива. Затем начинают медленно поднимать тубус, наблюдая через окуляр появление резкого изображения края стекла. Если рабочее расстояние было неверным или предметное стекло помещено неправильно, изображения видно не будет и фокусировку следует повторить. После этого производят окончательную регулировку освещения поворотом плоской и вогнутой поверхностей зеркала до получения наибольшей освещенности. Если свет слишком ярок, то перед коиденсориой линзой осветителя помещают матовое стекло или кусок белой бумаги. При наличии у микроскопа конденсора и диафрагмы наиболее яркое освещение получают, перемещая конденсор вверх и вниз. Интенсивность освещения окончательно регулируют, уменьшая размер диафрагмы. Если резкого изображения края предметного стекла получить не удается, можно сделать заключение, что на линзах микроскопа имеется грязь или что освещение неправильное. Последнее легко устраняется соответствующей регулировкой расстояния от источника света до микроскопа. [25]