Cтраница 1
Линии Кикучи также обнаруживают тонкую структуру. Каждому экстремуму величины Is соответствует светлая или темная линия Кикучи, параллельная основной линии Кикучи. Такие дополнительные линии называются сателлитами. Они позволяют без труда измерять расстояние между максимумами и минимумами. Иллюстрацией может служить фото 4, где легко обнаружить большое число сателлитов. Действующее ( наиболее интенсивное) отражение соответствует узлу ( 1010), образец - графит. [1]
Эвальда, а линия Кикучи проходит через пятно: б - s 0; узел обратной решетки лежит внутри сферы Эвальда, а линия Кикучи находится за пятном вдали от центрального пятна; в - s 0; если узел обратной решетки лежит вне сферы Эвальда, то линия Кикучи находится между центральным и отраженным пятнами. [2]
ЭМ-5, наблюдаются линии Кикучи, свидетельствующие о сравнительно высокой степени совершенства таких кристаллов. [4]
![]() |
Схемы к объяснению линий Кикучи. [5] |
В положении кристалла, близком к симметричному, линии Кикучи располагаются между центральным пятном и соответствующими точечными рефлексами и сравнительно слабо выделяются. [6]
Отклонение от вульф-брэгговского положения ( вектор s) наиболее точно устанавливают по положению линии Кикучи на электронограмме. Вектор отклонения от вульф-брэгговского положения проводят от узла обратной решетки до пересечения с поверхностью сферы отражения в направлении, параллельном ( или антипараллельном) падающему пучку. [8]
Дифракционная картина от бикристалла, как травило, состоит из двух ориентированных наборов рефлексов, накладывающихся на линии Кикучи. Кроме того, дополнительные рефлексы могут давать двойная дифракция и периодические наборы дислокаций. Эти дополнительные рефлексы можно отличить один от другого, наклоняя образец. При этом их интенсивность изменяется по-разному в зависимости от вида дифракции. [9]
Точная ориентировка кристалла ( или точное направление оси зоны) может быть установлена по положению двух пар линий Кикучи. Как видно на рис. 20.34, пересечение следов двух плоскостей представляет след оси их зоны. [10]
Для определения малых разориентаций и прецизионных1 измерений необходимо гониометрическое устройство, а также анализ интен-сивностей рефлексов или анализ положения линий Кикучи. [11]
Эвальда, а линия Кикучи проходит через пятно: б - s 0; узел обратной решетки лежит внутри сферы Эвальда, а линия Кикучи находится за пятном вдали от центрального пятна; в - s 0; если узел обратной решетки лежит вне сферы Эвальда, то линия Кикучи находится между центральным и отраженным пятнами. [12]
Эвальда, а линия Кикучи проходит через пятно: б - s 0; узел обратной решетки лежит внутри сферы Эвальда, а линия Кикучи находится за пятном вдали от центрального пятна; в - s 0; если узел обратной решетки лежит вне сферы Эвальда, то линия Кикучи находится между центральным и отраженным пятнами. [13]
Эффект каналирования заключается в появлении системы полос и более или менее четких тонких линий; ширина полос и их расположение закономерно связаны с кристаллической структурой и ориентировкой кристалла. Картинам каналирования подобны линии Кикучи, поэтому их иногда называют псевдо - Кикучи линиями. [14]
![]() |
Конусы лучей, приводящие к появлению линий Кикучи на электронно-дифракционной картине. [15] |