Линия - масс-спектр - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Формула Мэрфи из "Силы негативного мышления": оптимист не может быть приятно удивлен. Законы Мерфи (еще...)

Линия - масс-спектр

Cтраница 1


Линии масс-спектра прямые и очень интенсивные; для большинства наиболее интенсивных ионов спектра достаточна экспозиция менее 0 1 сек.  [1]

2 Участок масс-спектра, соответствующий нафталину. [2]

Из массовых линий масс-спектра углеводородов, собранных в ловушке 7, были вычтены массовые линии, соответствующие масс-спектрам нафталина и бензола, и было доказано их присутствие в исследуемой смеси, в основном бензола.  [3]

4 Зависимость между интенсивностью линии т / е 44 пропана п пг / е 15 метана и давлением этих газов в стандартном объеме. [4]

Между интенсивностью линий масс-спектра и давлением соответствующего компонента во взятом для анализа стандартном объеме газа существует прямая пропорциональность, что и является основной предпосылкой для расчетов состава смесей при помощи системы линейных уравнений.  [5]

6 Траектория движения положительного иона в электрическом поле источника. [6]

Следовательно, интенсивность линий масс-спектра с учетом эффективности ионизации отдельных газов является мерой парциальных давлений газов, входящих в состав смеси ( подробнее см. гл.  [7]

При измерении интенсивностей линий масс-спектров необходимо иметь в виду, что применение входных сопротивлений больше 1012 ом нежелательно. При таком сопротивлении уменьшение напряжения на выходе усилителя до тысячных долей первоначальной величины происходит за несколько секунд, а иногда и за десятки секунд после снятия сигнала на входе усилителя. Снижение инерционности усилителя ограничивается величиной входной емкости. Даже при самой рациональной конструкции ионного коллектора и минимальных его размерах суммарная емкость входа электрометрического каскада, включая емкость коллектора, монтажных проводов и сетки лампы, составляет не менее 10 пф.  [8]

Следовательно, интенсивность линий масс-спектра с поправкой на эффективность ионизации различных газов является мерой парциальных давлений компонент газа в смеси.  [9]

10 Градуировочные кривые одной фотопластинки в зависимости от способов обработки масс-спектров. [10]

Получение данных путем микрофотометрирования линий масс-спектров заключается в следующем. Набор данных Оц обрабатывают ЭВМ. Для определения фона, соответствующего каждому пику, регистрируются z точек до начала пика и z после его окончания.  [11]

Присутствие примесей определяется по линиям масс-спектров, характерных для изотопов примесных элементов. Наблюдаются заметные линии, соответствующие по крайней мере двум изотопам элемента, причем их отношение равно правильному изотопному соотношению. Линии с дробной массой соответствуют многозарядным ионам. Кроме того, полезно проследить, сохраняется ли распределение плотностей в масс-спектре с ростом экспозиции. Изменение распределения может быть обусловлено присутствием поверхностных загрязнений. Ненормальное отношение интенсивностей линий, однозарядных или многозарядных ионов может быть обусловлено тем, что ионы образуются во вторичных процессах.  [12]

Каждый из них индивидуально регистрируется линией общего молекулярного масс-спектра.  [13]

Количественная масс-спектрометрия основана на пропорциональности интенсивности линий масс-спектра от концентрации примесей при ионизации. Метод пригоден для определения газообразных примесей в металлах и полупроводниках, а также примесей, которые можно легко перевести в летучие соединения. Разные модификации классической масс-спектрографий обладают примерно одинаковой чувствительностью порядка 10 - 4 %, т.е. может быть обнаружена примесь, составляющая 10 - 6 вес.  [14]

15 Блок-схема масс-спектрометра-хроматографа MXJ307 ( Хромасс-2.| Масс-спектрометр-хроматограф МХ1307 ( Хромасс-2. [15]



Страницы:      1    2    3    4