Диффузная линия

Cтраница 1

Диффузные линии были необратимо ослаблены нагреванием до 750 С. [1]

При этом яркие диффузные линии А1П 394 40 и 396 15 нм становятся редкими и несколько ослабленными, что делает их пригодными для фотометр ирования. [2]

В случае очень широких диффузных линий точность может быть несколько ниже. Ввиду большого разнообразия в характере линий многие из них снабжены в таблицах второй части дополнительно символическими обозначениями, имеющими следующий смысл: ш - широкая, р - резкая, дв - двойная. [3]

Основной специфической линией галлуазита является сильная диффузная линия с d10 10 - 11 50 А. [4]

Таким образом, обнаружение излучения диффузной линии На на высоких галактических широтах не противоречило тому, что излучение РРЛ было принято в узкой полосе около плоскости Галактики. [5]

К квадрупольный спектр исчезает и появляются диффузные линии с плохо разрешенной сверхтонкой структурой. [6]

На дифрактограммах исходных шлаков № 4, 5, 8 имеется только широкая диффузная линия при значениях межплоскостных расстояний от 2 8 до 3 2 А. На термограммах этих шлаков ( рис. 40) наблюдается экзотермический эффект кристаллизации стекла при температуре 930 - 970 С, которому предшествует широкий эндотермический эффект ( без потери массы) в интервале температур от 780 до 900 С, вызванный затратами энергии на перегруппировки связей в стекловидной фазе перед ее кристаллизацией. [7]

Важно также выбирать линии по возможности одинакового внешнего вида, хотя иногда приходится сравнивать резкие и диффузные линии, а также линии, заметно отличающиеся по цвету. [8]

Определение неизвестной концентрации по методу добавок.| Определение неизвестной концентрации по методу приближений. [9]

Фон в спектре возникает в результате излучения молекулярных соединений, например А1О, SiO, а также диффузных линий некоторых элементов, таких, как Al, Pb, Mg, Bi и др., за счет свечения раскаленных концов электродов или раскаленных твердых частиц. [10]

Зависимость концентрации кислотных центров на поверхности кремне-циркониевых катализаторов от содержания ZrO2 в образце. [11]

Было показано, что образцы, полученные совместным осаждением, обладают слабо выраженной кристаллической структурой: на дебаеграммах наблюдались лишь 3 - 4 диффузные линии, сходные с линиями талька. [12]

Кроме того, на спектрах рассеяния полученных при длительных экспозициях, обнаруживается также одна более сильная резкая линия 22 795 см-1 и одна более слабая диффузная линия 22 774гл - 1, возможно принадлежащие молекулярному спектру ртути. Эти две линии отстоят от возбуждающей 4358 А на 143 н 164 см-1 и создают видимость наличия линий комбинационного рассеяния. [13]

Схема фазовых. [14]

Эти титано-хромовые окислы гомогенны только выше примерно 1450 и могут остаться таковыми при закалке, причем образуется деформированная решетка, дающая высокую твердость и диффузные линии на рентгенограммах. Медленное охлаждение приводит к несмешиваемости этих окислов. В вакууме реакции между рутилом и Сг203 сходны с таковыми в атмосфере кислорода. [15]

Страницы: 1 2 3