Cтраница 1
Аналитическая линия определяемого элемента может избирательно ослабляться атомами других элементов, присутствующих в образце, или, наоборот, усиливаться их флуоресценцией. Такие эффекты называются матричными. Уравнения ( 21), ( 25) и ( 27) получены при отсутствии матричных эффектов. [1]
Аналитическая линия определяемого элемента иногда отсутствует в спектре исходного неразбавленного материала и в то же время едва просматривается в спектре одного из разбавленных эталонных образцов, приготовленных на основном материале. Если данный эталонный образец содержит определяемый элемент в концентрации Сер, то это означает, что определяемый элемент присутствует в анализируемом материале в концентрации ниже сср % Это предельное значение необходимо знать особенно при анализе чистых материалов. [2]
Аналитические линии определяемых элементов и линии сравнения внутреннего стандарта должны иметь близкие длины волн. [3]
Аналитические линии определяемого элемента и линии внутреннего стандарта должны быть лишены самопоглощения. [4]
Выводят аналитическую линию определяемого элемента на выходную щель монохроматора. [5]
Для отделения аналитических линий определяемых элементов от соседних участков спектра испускания источника и от молекулярных полос поглощения и испускания атомизатора применяют призменные и дифракционные монохроматоры и полихроматоры с фотоэлектрической регистрацией. [6]
Наложение на аналитическую линию определяемого элемента какой-либо достаточно яркой линии любого элемента, который присутствует в пробе, препятствует использованию данной аналитической линии. [7]
Если на единственную пригодную аналитическую линию определяемого элемента накладывается линия другого элемента, присутствующего в пробе, то переход к интенсивностям необходим. Он дает возможность исключить из суммарной интенсивности интенсивность мешающей линии и построить правильный градуировочный график. Метод такого исключения состоит в предварительном измерении относительной интенсивности накладывающейся линии и гомологичной с ней другой линии, принадлежащей тому же элементу, что и мешающая линия. [8]
Чувствительности определений, аналитические линии определяемых элементов и элемента сравнения приведены в таблице. [9]
Чувствительности определений, аналитические линии определяемых элементов и элемента сравнения приведены g таблице. [10]
В таблице представлены аналитические линии определяемых элементов и места измерения фона. [11]
Обработка фотопластинки и аналитические линии определяемых элементов описаны на стр. [12]
![]() |
Спектрограф ДФС-13. [13] |
Если фон под аналитической линией определяемого элемента не слишком интенсивен и нет опасности наложений соседних линий, то щель расширяют до 0 02 - 0 03 мм. [14]
В табл. 1 приведены аналитические линии определяемых элементов и чувствительность метода. [15]