Аналитическая линия - определяемый элемент - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Аксиома Коула: суммарный интеллект планеты - величина постоянная, в то время как население планеты растет. Законы Мерфи (еще...)

Аналитическая линия - определяемый элемент

Cтраница 1


Аналитическая линия определяемого элемента может избирательно ослабляться атомами других элементов, присутствующих в образце, или, наоборот, усиливаться их флуоресценцией. Такие эффекты называются матричными. Уравнения ( 21), ( 25) и ( 27) получены при отсутствии матричных эффектов.  [1]

Аналитическая линия определяемого элемента иногда отсутствует в спектре исходного неразбавленного материала и в то же время едва просматривается в спектре одного из разбавленных эталонных образцов, приготовленных на основном материале. Если данный эталонный образец содержит определяемый элемент в концентрации Сер, то это означает, что определяемый элемент присутствует в анализируемом материале в концентрации ниже сср % Это предельное значение необходимо знать особенно при анализе чистых материалов.  [2]

Аналитические линии определяемых элементов и линии сравнения внутреннего стандарта должны иметь близкие длины волн.  [3]

Аналитические линии определяемого элемента и линии внутреннего стандарта должны быть лишены самопоглощения.  [4]

Выводят аналитическую линию определяемого элемента на выходную щель монохроматора.  [5]

Для отделения аналитических линий определяемых элементов от соседних участков спектра испускания источника и от молекулярных полос поглощения и испускания атомизатора применяют призменные и дифракционные монохроматоры и полихроматоры с фотоэлектрической регистрацией.  [6]

Наложение на аналитическую линию определяемого элемента какой-либо достаточно яркой линии любого элемента, который присутствует в пробе, препятствует использованию данной аналитической линии.  [7]

Если на единственную пригодную аналитическую линию определяемого элемента накладывается линия другого элемента, присутствующего в пробе, то переход к интенсивностям необходим. Он дает возможность исключить из суммарной интенсивности интенсивность мешающей линии и построить правильный градуировочный график. Метод такого исключения состоит в предварительном измерении относительной интенсивности накладывающейся линии и гомологичной с ней другой линии, принадлежащей тому же элементу, что и мешающая линия.  [8]

Чувствительности определений, аналитические линии определяемых элементов и элемента сравнения приведены в таблице.  [9]

Чувствительности определений, аналитические линии определяемых элементов и элемента сравнения приведены g таблице.  [10]

В таблице представлены аналитические линии определяемых элементов и места измерения фона.  [11]

Обработка фотопластинки и аналитические линии определяемых элементов описаны на стр.  [12]

13 Спектрограф ДФС-13. [13]

Если фон под аналитической линией определяемого элемента не слишком интенсивен и нет опасности наложений соседних линий, то щель расширяют до 0 02 - 0 03 мм.  [14]

В табл. 1 приведены аналитические линии определяемых элементов и чувствительность метода.  [15]



Страницы:      1    2    3    4