Аналитическая линия - определяемый элемент
Cтраница 3
Минимальное почернение, изменяемое непосредственно рядом с аналитической линией определяемого элемента со стороны длинных волк. [31]
Минимальное почернение, измеряемое непосредственно рядом с аналитической линией определяемого элемента ео стороны коротких волн. [32]
В аналитической практике обычно ограничиваются измерением разности почернений аналитической линии определяемого элемента и линии сравнения, а иногда измерениями почернений одной только линии определяемого элемента и не определяют по ним сами интенсивности. При фотографической фотометрии необходимо строго соблюдать время экспозиции, условия освещения щели спектрального прибора и пользоваться пластинками определенного сорта, проявляя их всегда в одних и тех же условиях. [33]
В аналитической практике обычно ограничиваются измерением разности почернений аналитической линии определяемого элемента и линии сравнения, а иногда измерениями почернений одной только линии определяемого элемента и не определяют по ним сами интенсивности. При фотографической фотометрии необходимо строго соблюдать время экспозиции, условия освещения щели спектрального прибора и пользоваться пластинками определенного сорта, проявляя их всегда 5 - К / Я WOk - s B одних и тех же условиях. [34]
Фотометрируют последовательно холостые растворы и растворы с добавками по аналитической линии определяемого элемента. [35]
Такая схема может быть использована в том случае, если аналитическая линия определяемого элемента расположена при длинах волн, меньших 300 ммк, где фон излучения самого пламени или излучение как определяемого элемента, так и посторонних в соседних с аналитической линией областях спектра малы и с ними можно не считаться. В остальных случаях, при длинах волн аналитических линий, больших 300 ммк, необходимо отделение сигнала поглощаемой линии от фона пламени и собственного излучения элемента в пламени. [36]
Фотопластинку проявляют, фиксируют, промывают, высушивают и фотометрируют аналитические линии определяемых элементов и фона. [37]
При совместном поступлении элементов в дугу трудно избежать наложения на аналитические линии определяемого элемента линий других компонентов. Поэтому для определения легколетучих элементов пробу помещают в более глубокий канал и поддерживают температуру электрода более низкую, чем для определения первого и второго рядов летучести. Обычно глубина канала 8 - 10 мм, при диаметре 3 - 4 мм и толщине стенок 0 5 мм. В случае дуги постоянного тока электрод является катодом, так как он холоднее анода. [38]
 |
Схема вакуумного фотоэлектрического спектрометра ДСФ-31 с дифракционной решеткой. [39] |
В результате получают диаграмму, которая позволяет количественно установить почернение аналитических линий определяемых элементов и линий сравнения. Различие в почернении Д5 двух таких линий является относительной мерой их интенсивности и используется как характеристика содержания определяемого элемента в пробе. [40]
 |
Связь между падением электрического напряжения в дуговом промежутке и средней температурой разряда в угольной дуге постоянного тока в атмосфере воздуха, установ. [41] |
Рассмотрим теперь вопрос об оптимальных параметрах плазмы, обеспечивающих максимальную интенсивность аналитических линий определяемых элементов, применительно к наиболее распространенному методу анализа в дуговом разряде при наличии в плазме значительных концентраций легкоионизуемого элемента. [42]
При использовании химико-спектрального метода градуировочные графики строят в координатах: разность почернения аналитической линии определяемого элемента и элемента сравнения ( Со) - логарифм концентрации определяемого элемента. [43]
Рассмотрим теперь вопрос об оптимальных пари метрах плазмы, обеспечивающих максимальную интенсивность аналитических линий определяемых элементов, применительно к наиболее распространенному методу анализа в дуговом разряде при наличии в плазме значительных концентраций легкоионизуемого элемента. [45]
Страницы: 1 2 3 4