Cтраница 3
На рис. 3.96 показана картина дифракционных линий Френеля от продольных стоячих волн в топазе, на рис. 3.97 представлено видимое отображение акустических волн в расплавленном кварце, полученное методом Шлиерена, позволяющим найти распределение акустической энергии вдоль траектории луча. [32]
![]() |
Влияние скорости шлифо - [ IMAGE ] Влияние скорости шлифовального круга при черновом шлифо - вального круга при черновом шлифовании на параметр решетки мартенсита в поверхностном слое дорожки. [33] |
Fe относительно положения центра тяжести дифракционной линии эталона. [34]
Рентгенограмма этого соединения характеризуется наличием интенсивных дифракционных линий с d3 75; 0 265 нм. [35]
На рисунке 6 дано сравнение дифракционных линий сплава после обжига при 700 в течение часа дифракционными линиями катализатора, приготовленного из этого же сплава. [36]
![]() |
Принципиальная схема асимметричного расположения фотопленки в камере Дебая - Шеррера ( по Штрау-манису.| Пояснение к расшифровке асимметричного снимка. [37] |
Это приводит к неточности измерения диаметров дифракционных линий, а отсюда возникают все другие погрешности. Штрауманис разработал метод, позволяющий устранить этот недостаток. Таким образом, отверстие в пленке расположено не в середине, а на четверти ее длины, считая от концов. [38]
Для увеличения точности измерения смещения максимумов дифракционных линий и устранения влияния дефокусировки при изменении угла наблюдения oj) в дифрактометре предусмотрены возможность перемещения детектора вдоль радиуса гониометра, использование метода эталона, а также использование репера, дающего отметку в непосредственной близости от дифракционных линий исследуемого материала и эталона. [39]
Определяем значения углов 0 по положению дифракционных линий. Сначала находим цену деления на оси абсцисс. Для этого измеряем разность между двумя ближайшими отметками углов в градусах 20 и делим полученное значение на величину того же отрезка, измеренную в миллиметрах. Эта разность в нашем случае составляет 15 98 ( в градусах 20), а отрезок - 23 мм. [40]
Для построения кривых нужно тщательно выбрать такие дифракционные линии, которые не складывались бы с линиями других возможных компонентов в богатой линиями бокситной диаграмме. Не меньшие трудности вызывает также пластинчатая форма кристаллов гидраргиллита в бокситах, которые располагаются чаще всего параллельно базису и являются поэтому причиной несоизмеримо сильной интенсивности базисного рефлекса. Это влияние текстуры может быть ослаблено путем замешивания в пробу тонкой пробковой муки. [41]
Поскольку на рентгенограммах асфальтенов удается достоверно идентифицировать только дифракционные линии первого порядка, то оценить вклад таких факторов, как концентрация микродефектов в кристаллических структурах1 и дисперсность размеров ОКР становится фактически невозможным. Поэтому величины La и Lc, определенные рентгенографически имеют заниженные значения. [43]
При получении рентгенограмм от поликристаллических образцов интенсивность дифракционных линий также зависит от вероятности нахождения кристаллитов в отражающем положении. [44]
Таким образом, наличие обратимой составляющей ширины дифракционных линий может быть обусловлено только микроразрушением поверхностного слоя, образованием микротрещин. Периодический характер зависимости ширины линий ( 110) и ( 220) a - Fe свидетельствует о том, что при разных нагрузках одно и то же число воздействий: индентора соответствует разному состоянию поверхности - различной степени ее упрочнения или разрушения. [45]