Cтраница 1
Линник предложил микропрофи-лометр, вытягивающий нерегулярные неровности в одну прямую линию, на которой и производится измерение Нср. [1]
Линник - Рао) Пусть F ( x) - произвольная функция распределения с нулевым средним и конечным стандартным отклонением и пусть FQ ( X) F ( x - 9), где параметр О может принимать произвольные действительные значения. [2]
Линник Юрий Владимирович ( 1914 - 1972) - математик, профессор Ленинградского университета, участник Великой Отечественной войны, чл. [3]
Линника является стеклянный кубик А ( рис. 5.11), состоящий из двух половин, склеенных по диагональной плоскости. Одна из склеиваемых поверхностей полупосеребрена. Ход лучей в интерферометре показан на рис. 5.11, где ВС - исследуемая плоская поверхность, а 3 - плоское зеркало. Двугранный угол между зеркалом и поверхностью ВС отличается от я / 2 на малую величину а. На рис. 5.11 пунктиром DE показано мнимое изображение отражающей поверхности зеркала 3 в полупосеребренной диагональной плоскости кубика А. В тех местах поверхности ВС, где имеются выступы или углубления, наблюдаются искривления интерференционных полос. [4]
Линника выполняется с большой точностью. [5]
Линника представлена на фиг. [6]
Линника является стеклянный кубик А ( рис. 5.11), состоящий из двух половин, склеенных до диагональной плоскости. Одна из склеиваемых поверхностей полупосеребрена. Ход лучей в интерферометре показан на рис. 5.11, где ВС - исследуемая плоская поверхность, а 3 - плоское зеркало. Двугранный угол между зеркалом и поверхностью ВС отличается от я / 2 на малую величину а. На рис. 5.11 пунктиром DE показано мнимое изображение отражающей поверхности зеркала 3 в полупосеребренной диагональной плоскости кубика А. В тех местах поверхности ВС, где имеются выступы или углубления, наблюдаются искривления интерференционных полос. [7]
Линника является стеклянный кубик А ( рис. 5.11), состоящий из двух половин, склеенных до диагональной плоскости. Одна из склеиваемых поверхностей полупосеребрена. Ход лучей в интерферометре показан на рис. 5.11, где ВС - исследуемая плоская поверхность, а 3 - плоское зеркало. Двугранный угол между зеркалом и поверхностью ВС отличается от л / 2 на малую величину а. На рис. 5.11 пунктиром DE показано мнимое изображение отражающей поверхности зеркала 3 в полупосеребренной диагональной плоскости кубика А. В тех местах поверхности ВС, где имеются выступы или углубления, наблюдаются искривления интерференционных полос. [8]
Линника; б - на профилографе Левина. [9]
Линника; б - на профилографе Левина. [10]
Линника; б-на профилографе - Левина. [11]
Линника и на профилографе Левина. [12]
Микроинтерферометр Линника позволяет контролировать поверхности 10 - 14-го классов шероховатости. [13]
МИИ-4 Линника), когда высота микронеровностей характеризуется величиной изгиба интерференционных полос в местах выступов или впадин на проверяемой поверхности. Величина изгиба интерференционных полос определяется в долях ширины полосы с помощью винтового окулярного микрометра или на глаз. [14]
Микроинтерферометр Линника используется для определения величин неровностей отражающих поверхностей. [15]