Линник

Cтраница 3

Одна из конструкции микропнторферометров Линника МИИ-4 претерпела существенные изменения, и принцип действия ее, пожалуй, ничего общего с принципом доистшш интерферометра Майкельсона не имеет, если не считать расположения зеркал, которое осталось прежним. [31]

Измерение двугранных углов на микроинтерферометре Линника. [32]

Автор пользуется случаем поблагодарить Юрия Владимировича Линника за постоянное внимание. [33]

Технические данные микроинтерферометров и двойных микроскопов Линника и профилографов Левина см. том 11, гл. [34]

Этот прибор называется двойным микроскопом академика Линника МИС-11 ( фиг. В приборе академика Линийка луч света направляется на поверхность под определенным углом. С противоположной стороны под таким же углом производится наблюдение поверхности. Если световой луч падает на гладкую поверхность, то мы видим узкую ровную световую полоску. Но когда на поверхности имеются какие-либо неровности, то мы наблюдаем уже изломанную полоску света ( фиг. Измеряя при помощи прибора величину излома полоски, мы можем определить высоту неровностей. Прибор дает увеличение до 318 раз. При таком увеличении излом световой полоски получается уже довольно большой величины. Он замеряется специальным устройством микроскопа - окуляр-микрометром. Замер излома световой полоски дает возможность точно в микронах определить высоту шероховатости поверхности. [35]

Из вышеуказанных бесконтактных приборов двойной микроскоп Линника МИС-11 предназначен для измерения чистоты обработанных поверхностей с 3-го по 9 - й класс; интерференционные микроскопы МИИ-1, МИИ-4, МИИ-5 - для поверхностей с 10-го по 14 - й класс. [36]

Кроме рассмотренных, применяются автоколлимационные окуляры систем Линника, Захарьевского, Монченко и окуляр со светящейся сеткой. [37]

Измерение высоты неровностей производят двойным микроскопом системы Линника. [38]

Расчетная ( а и функциональная ( С схемы лазерного эллипсометра. [39]

На рис. 8 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферометра Майкельсона. Свет от источника / ( лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму 3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало 6 и контролируемую поверхность 7 соответственно. [40]

Расчетная ( а и функциональная ( Jo схемы лазерного эллипсометра. [41]

На рис. 8 показана схема двухлучевого микроинтерферометра Линника. В ее основу положен принцип действия интерферометра Майкельсона. Свет от источника 1 ( лампа накаливания) проходит через конденсор 2 и диафрагму 3, зеркалом 4 делится на два когерентных пучка, которые фокусируются объективами 5 и 5 на эталонное зеркало 6 и контролируемую поверхность 7 соответственно. [42]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. [43]

В основу оптической системы прибора взят интерферометр Линника [15], который выгодно отличается от других подобных приборов своей компактностью и простым устройством. Между объективом 6 микроскопа и окуляром О находится стеклянный кубик 8, который состоит из двух склеенных прямоугольных призм. На уровне кубика помещается второй объектив 7, ориентированный перпендикулярно этой же оси. Против объектива 7 расположен источник монохроматического света. Интерференция возникает вследствие оптической разности хода двух лучей, появляющихся при разложении света кубиком. В кубике этот луч снова отражается от диагональной плоскости в направлении окуляра микроскопа О. Другая часть лучей сначала отражается от кубика в сторону зеркала 5 и после отражения от него, пройдя через кубик, попадает в окуляр микроскопа. [44]

Этот способ используется в интерферометрах Майкельсона и Линника, схемы которых. [45]

Страницы: 1 2 3 4