Проходящий луч

Cтраница 4

Взаимодействие дислокаций с диспергированными окисными частицами в рекристалли-зованных сплавах типа САП подробно изучалось Гудрихом [ 191 с помощью электронной микроскопии в проходящих лучах. [46]

Отражательная дифракция быстрых электронов для идеально плоских ( а и грубых ( б поверхностей. [47]

В отличие от рентгеновского излучения электроны рассеиваются в основном атомными ядрами. Эффективное сечение в этом случае значительно больше, чем при дифракции рентгеновских лучей, поэтому дифракция электронов имеет следующие особенности: 1) ввиду более высокой интенсивности интерференции существенно уменьшается время облучения; 2) ввиду заметного поглощения электронов твердые вещества можно исследовать в проходящем луче лишь в виде тонких слоев или малых кристаллов; кроме того, необходим вакуум ( 10 - 2 Па); 3) представляется, возможным исследовать газы [163] ( рис. 3.53), структуры, изменяющиеся во времени, и положение атомов водорода; 4) наряду с упругим процессом рассеяния заметную роль играют неупругие взаимодействия. [48]

Фильтры и ослабители, которыми пользуются при работе с лазерными пучками высокой мощности, можно калибровать, деля лазерный луч полупрозрачной призмой и сравнивая амплитуды выходных сигналов двух фотоэлементов. При этом сигналы подают через дифференциальный усилитель на двух-лучевой осциллограф. В проходящий луч вводят фильтр или ослабитель и регулируют коэффициент усиления соответствующего канала осциллографа, чтобы выровнять амплитуды сигналов. [49]

Ослабление ( аттенюация рентгеновских лучей при прохождении через экспонируе-мый объект. [50]

Величина аттенюации зависит от плотности изучаемого объекта, его химического состава и энергии потока рентгеновского излучения. Для равных величин энергии рентгеновского луча более плотный материал будет сильнее ослаблять проходящий поток, чем менее плотный. В практической медицинской радиологии для определения интенсивности проходящего луча используется светочувствительный материал, на котором получается изображение объекта. В компьютерной томографии для определения коэффициентов линейной аттенюации используются специальные детекторы. [51]

На рис. 7 - 7 представлен разрез колонны электронного микроскопа третьей группы ЭМ-9, разработанного ГОИ. Оптика микроскопа состоит из длиннофокусной электронной пушки и двух электромагнитных линз. Микроскоп позволяет проводить визуальное наблюдение объекта в проходящих лучах, а также фотографировать изображение. Смена объектов производится с помощью вакуумного шлюза без нарушения вакуума в колонне микроскопа. Электронные микроскопы ЭМ-9 изготавливаются Красногорским механическим заводом. [52]

Релаксация дислокаций на частицах вторичной фазы. промежуток между каждым.| Выход дислокационных петель с поверхности фольги. промежуток между каждым, . снимком 15 сек. [53]

Два из этих факторов тесно связаны с правильностью интерпретации полученных микрографий с точки зрения взаимодействия дислокаций с диспергированными частицами в процессе деформации двухфазных твердых тел. Во-первых, конфигурация дислокаций, на которой основана теоретическая модель поведения текучести, нестабильна и изменяется при снятии напряжения в двухфазной системе. Обычно тонкие фольги, исследуемые под электронным микроскопом в проходящих лучах, находятся в ненапряженном состоянии. [54]

Имеются другие вещества, которые и без наличия магнитной силы вращают плоскость поляризации вправо или влево, когда луч проходит через вещество. В некоторых из них эту способность следует отнести за счет существования некоторой оси, как, например, в случае кварца. Во всех этих веществах, однако, если плоскость поляризации проходящего луча вращается в среде подобно винту с правосторонней нарезкой, она все-таки будет вращаться подобно правостороннему винту, если луч пропускается через среду в противоположном направлении. Направление, в котором наблюдатель должен повернуть свой анализатор для того, чтобы погасить луч после того, как он пропустил его через среду, одно и то же по отношению к наблюдателю вне зависимости от того, приходит ли луч к нему с севера или с юга. [55]

Дифракция света на стоячих ультразвуковых волнах для десяти различных интенсивностей ультразвука. [56]

На рис. 179 даны фотографии дифракции света на стоячих ультразвуковых волнах для десяти различных интенсивностей ультразвука; мы видим, что по мере увеличения интенсивности число боковых линий постепенно увеличивается. На последнем снимке присутствуют уже спектры до 4-го порядка включительно. Мы видим также, как перераспределяется интенсивность линий; интенсивность проходящего луча ( центральная пиния) постепенно уменьшается, зато появляются спектры все более я более высокого порядка. [57]

Зависимость проявляется только в следующих приближениях. Условие ( 2) поэтому для малых углов выполняется; направления CJ, Сг1 и все промежуточные направления CI будут, следовательно, направлениями отраженных лучей, ив / получается четкое изображение входной щели А. Следует отметить, что изображение О входной щели А в проходящих лучах ( см. рис. 2) получается, наоборот, широким, несфокусированным. [58]

Небогата и журнальная методическая литература, посвященная учебным экспериментам по интерференции в диффузно рассеянных лучах. Число публикаций по этой тематике исчисляется единицами. Другая часть посвящена более современной проблеме - интерференции рассеянного света в проходящих лучах. [59]

Фосфорный отпечаток дамасской стали после травления реактивом 31, X 3. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5