Cтраница 2
Блоки настолько малы, что можно пре-небречь повторной дифракцией дифракционного луча в пределах одного и того же блока. С другой стороны, блоки разориентированы настолько, что в тот момент, когда один блок дифрагирует ( находится в ориентации, отвечающей условиям Лауэ), соседние блоки в такой ориентации еще ( или уже) не находятся, и поэтому повторной дифракции в пределах кристалла в целом тоже не происходит. [16]
В обычном методе вращения на рентгенограмме регистрируется только направление дифракционного луча, о не ориентации кристалла в момент отражения. В методе качания задается интервал поворота кристалла - его исходное и конечное положения. [17]
Блоки настолько малы, что можно пренебречь повторной дифракцией дифракционного луча в пределах одного и того же блока. С другой стороны, блоки разориентированы настолько, что в тот момент, когда один блок дифрагирует ( находится в ориентации, отвечающей условиям Лауэ), соседние блоки в такой ориентации еще ( или уже) не находятся, и поэтому повторной дифракции в пределах кристалла в целом тоже не происходит. Не рассматривая эти поправки по существу, отметим лишь, что они важны только при прецизионных структурных исследованиях и вводятся, в отличие от поправки на поглощение, на заключительной стадии исследования при уточнении координат атомов. [18]
Эффект тепловых колебаний может быть учтен в формуле интенсивности дифракционного луча в виде определенных поправок к значениям атомных амплитуд. [19]
Блоки настолько малы, что можно пренебречь повторной дифракцией дифракционного луча в пределах одного и того же блока. С другой стороны, блоки разориентированы настолько, что в тот момент, когда один блок дифрагирует ( находится в ориентации, отвечающей условиям Лауэ), соседние блоки в такой ориентации еще ( или уже) не находятся, и поэтому повторной дифракции в пределах кристалла в целом тоже не происходит. Не рассматривая эти поправки по существу, отметим лишь, что они важны только при прецизионных структурных исследованиях и вводятся, в отличие от поправки на поглощение, на заключительной стадии исследования при уточнении координат атомов. [20]
Как уже говорилось выше, величина F 2 для данного дифракционного луча ( для данной системы отражающих плоскостей) зависит от проекции электронной плотности на направление нормали. [21]
Так как сдвиг по фазе ifj не зависит от шдексов дифракционного луча и, в частности, не заменяется ча обратную величину при переходе от hkl к hkl, то включение по-фавки на аномальное рассеяние делает лучи с индексами hkl и / ltd ie вполне равноценными по интенсивности и, следовательно, нарушает закон центросимметричности рентгеновской оптики. [22]
Так как сдвиг по фазе PJ не зависит от индексов дифракционного луча и, в частности, не заменяется на обратную величину при переходе от hkl к Ш, то включение поправки на аномальное рассеяние делает лучи с индексами hkl и hkl не вполне равноценными по интенсивности и, следовательно, нарушает закон центросимметричности рентгеновской оптики. [23]
![]() |
Случай изобарич. 3Ратной конденсации. р критич давление. [24] |
Благодаря тому, что можно установить взаимно однозначное соответствие между дифракционными лучами, к-рые дает монокристалл, и узлами О. [25]
При измерении дифракционного отражения для определенной слоевой линии взаимное положение счетчика и дифракционного луча определяется двумя углами: j и Y-Первый угол определяет вращение кристалла относительно оси шпинделя ( нулевое положение произвольно, обычно его выбирают таким, чтобы ось обратной решетки была параллельна падающему пучку), а второй угол - положение счетчика на конусе отражений; он отсчитывается от плоскости, в которой находятся пучок и ось вращения кристалла. Угол j есть мера горизонтального расстояния. [26]
Соотношение ( 39) дает возможность установить корреляцию между углами, характеризующими направление дифракционного луча: т и v, с одной стороны, н 20 - с другой. [27]
Оно, собственно, означает следующее: кристалл находится в ориентации, отвечающей появлению дифракционного луча pqr в том случае, если векторная сумма единичного вектора первичного пучка S0 и вектора обратной решетки Нр. [28]
Оно, собственно, означает следующее: кристалл находится в ориентации, отвечающей появлению дифракционного луча pqr в том случае, если векторная сумма единичного вектора первичного пучка S0 и вектора обратной решетки Нр. [29]
![]() |
К расчету смещения зонального эллипса вдоль диаметра У при поперечном наклоне. [30] |