Дифракционный луч - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Никогда не недооценивай силы человеческой тупости. Законы Мерфи (еще...)

Дифракционный луч

Cтраница 3


При регистрации рентгеновских лучей с помощью ионизационного прибора имеется возможность проследить за изменением интенсивности дифракционного луча при отклонении кристалла от положения, отвечающего условию Брегга - Вульфа. Эта особенность и используется при уточнении юстировки кристалла в дифрактометрах. Монокристальная приставка к дифрактометру УРС-50И позволяет проводить исследование порядным методом по экваториальной схеме.  [31]

Отсутствие полной параллельности в ориентации блоков монокристалла также может влиять на распределение интенсивности в дифракционных лучах и на размеры пятен. При исследовании методом вращения блоки, имеющие различные ориентации, отражают рентгеновские лучи в несколько различные моменты времени. В обычном методе вращения ( с неподвижной пленкой) это обстоятельство не может сказаться на размерах пятна: отдельные блоки последовательно занимают ( одно и то же. Но при получении рентгенгониометри-ческих снимков движение пленки, синхронное вращению кристалла, приводит к попаданию последовательно отраженных лучей в разные точки пленки, и пятна растягиваются в той или иной степени в зависимости от интервала изменений ориентации блоков.  [32]

Каждый дифракционный луч характеризуется своей тройкой чисел р, q, r, называемых индексами дифракционного луча. Физический смысл индексов очевиден. В условии ( 22) целое число т означает разницу в количестве длин волн, укладывающихся на пути лучей, рассеянных соседними атомами атомного ряда.  [33]

Сравнительно просто производится уточнение юстировки в дифрактометре, где имеется возможность проследить за изменением интенсивности дифракционного луча при изменении ориентации кристалла ( см. стр.  [34]

Вместе три числа р, q, r характеризуют одно из дифракционных направлений и называются индексами дифракционного луча.  [35]

Точность определения межплоскостного расстояния dpqr, а следовательно, параметра а зависит от угла отражения Ф дифракционного луча.  [36]

Вместе три числа р, q, r характеризуют одно из дифракционных направлений и называются индексами дифракционного луча.  [37]

Точность определения межплоскостного расстояния dpqr, а следовательно, параметра а зависит от угла отражения - & дифракционного луча.  [38]

По отношению же к кристаллу структурная амплитуда играет роль всего лишь одного из факторов, определяющих интенсивность дифракционного луча. Поэтому определение структурной амплитуды отражения должно быть дано в несколько иной форме. Чтобы избавиться от различного рода добавочных факторов ( интегральное, поглощения, экстинкции), будем считать кристалл бесконечным, непоглощающим и идеально мозаичным.  [39]

40 Общий случай поворота кристалла в отражающее положение. [40]

Поскольку далее будут рассмотрены кинематические схемы некоторых наиболее распространенных монокристальных дифракто-метров, следует несколько детальнее остановиться на понятии направляющих углов дифракционного луча.  [41]

В отличие от лауэграмм, на которых запечатлена вся дифракционная картина, в ионизационных спектрографах ( УРС-25-И, УРС-50-Й) фиксируется отдельный дифракционный луч. Для каждого вещества существует несколько углов падения, таких, что счетчик фиксирует отраженный луч только, если он расположен под углом 2й к падающему лучу. Поэтому при работе с кристаллами одного вещества рентгеновская трубка и счетчик фиксируются в заданном положении. Путем поворота кристалла фиксируют угол, при котором стрелка счетчика показывает максимальную интенсивность. В этом положении угол падения луча на кристаллографическую плоскость равен &, поскольку рентгеновские лучи отражаются не от поверхности кристалла, а от кристаллографических плоскостей.  [42]

43 К выводу уравнения Брегга. [43]

Условие Лауэ и уравнение Брэгга, имея алгебраическую форму, по сути выражают связь между геометрическими параметрами - направлениями первичного пучка, дифракционного луча, ориентацией кристалла и его параметрами.  [44]

Это означает, что в сущности мы имеем дело с системой, состоящей из четырех уравнений, из которой требуется найти три параметра дифракционного луча.  [45]



Страницы:      1    2    3    4