Cтраница 1
Сканирующий луч разлагает изображение на 625 строк. Каждое полное изображение образуется из элементов различной освещенности, входящих в эти 625 строк. [2]
В качестве сканирующего луча наиболее эффективно, по-видимому, может быть использован луч лазера, обладающий высокой степенью когерентности и высокой разрешающей способностью. [3]
Таким образом, сканирующий луч может быть получен в процессе суммирования измеряемых кросс-корреляционных сигналов соответствующими сдвигами фазы компьютером. [5]
![]() |
Схема, объясняющая принцип действия инфракрасной вертикали. [6] |
Если ось конуса, образованного сканирующим лучом, совпадает с направлением на центр Земли, то результирующий сигнал на выходе приемника ИКВ будет равен нулю. В том случае, если сигнал не равен нулю, он распределяется чю каналам тангажа и крена таким образом, чтобы указанные оси вновь совпали. [7]
Сканирование может выполняться непосредственно воспринимающим элементом или сканирующим лучом при неподвижном воспринимающем элементе. Такими элементами могут быть оптико-механические или электронно-развертывающие устройства. [8]
Применяя генераторы изображения в сочетании с электронным сканирующим лучом, можно сразу получать эталонный фотошаблон с мультиплицированным изображением истинных размеров, исключая уже не один, а два предварительных этапа изготовления. С помощью такого метода уже сейчас удается получать фотошаблоны с активным полем 50 х 50 мм и минимальным размером элементов изображения в субмикронном диапазоне 0 6 - 0 8 мкм. [9]
ИСЗ на круговых орбитах или высоколетящие ИСЗ со сканирующим лучом. [10]
![]() |
Схема кельсона. [11] |
Съем кода со счетчика производится в момент пересечения сканирующим лучом линии изображения, причем измерение можно произвести как при прямом, так и обратном направлении движения луча. [12]
Определяемое значение пропорционально углу отклонения зеркала в момент, когда сканирующий луч пересекает линию изображения. [13]
Было установлено, что спектры излучения Си и Cd чередуются при перемещении сканирующего луча, что свидетельствует о ярко выраженной сегрегации Cu2S в области границ зерен и согласуется с результатами структурного анализа. Аналогичные данные получены Мукерджи и др. [46] при исследовании методом катодо-люминесценции образцов Ct S-CdS после создания косого шлифа. Цэнг и Гринфилд [52], изучавшие методом оже-спектро-скопии распределение химических элементов в структурах Ci S-CdS, изготовленных с помощью мокрого процесса, сообщали, что в поверхностном слое помимо S и Си содержится большое количество О, С, С1 и Cd. Полагают, что О и С проникают в слой Cu2S при выдержке образцов на воздухе, наличие же С1 и Cd связано с особенностями процесса окунания. Установлено также, что слой Cu S солнечных элементов, имеющих высокий коэффициент заполнения вольт-амперной характеристики, состоит в основном из халькоцита и некоторого количества дюрлита. При недостаточно высоком содержании халькоцита элементы имеют плохие характеристики. [14]
Импульсы обрабатываются в цифровой вычислительной машине, которая выдает данные о положении сканирующего луча и генерирует сигналы управления для оптико-акустического модулятора, который включает и выключает луч. [15]