Сканирующий луч

Cтраница 2

В технологии изготовления МПП широко применяют метод и оборудование для изготовления фотошаблонов сканирующим лучом непосредственно на фотопластинках. Этот метод основан на микроскопической проекции простого элемента ( например, отверстия) на фотопластинку, перемещающуюся относительно фотоголовки. [16]

В связи с тем, что в большинстве случаев возбуждение этих материалов осуществляется сканирующим лучом, были исследованы их динамические характеристики в условиях локального воздействия и локального съема информации с учетом взаимодействия этой локальной зоны с соседними частицами. [17]

Схемы взаимодействия конструктора и ЭВМ при диалоговом. [18]

Во втором случае ( дисплеи телевизионного или растрового типа) изображение получается при подсветке сканирующего луча. Телевизионные стандарты раскладывают поверхность изображения на матрицу точек размерностью 600X500 мм. [19]

Схемы взаимодействия конструктора и ЭВМ при диалоговом. [20]

Схема устройства, основанного на методе биений. [22]

Из-за непараллельности и начальной кривизны относительно мишени передающей трубки, искажений в оптике и неравномерности движения сканирующего луча возникает паразитная девиация частоты. Ее можно существенно уменьшить, применяя автоматическую подстройку частоты АПЧ. [23]

Разработана система точного регулирования размеров заго-тонок малого сечении при скоростном профилировании, и которой за одну секунду сканирующий луч несколько раз определяет ширину профилируемой ленты, а корректирующее устройство, работающее от двигателя шагового типа, обеспечивает корректировку ширины листа. [24]

Например, для изготовления стальных теплообменников трубчатого типа применяют установку ЭЛН-11, где нагрев всех соединений на трубной доске производится сканирующим лучом. Такой метод позволяет нагревать лишь поверхность трубной доски и концы трубок, что предотвращает стекание припоя в межтрубную полость. [25]

Эта методика оказалась достаточно эффективной также при изучении сколов в кристаллах и пористых поверхностей [11 ], так как при осмотре поверхности кристалла сканирующим лучом можно выбрать любой участок поверхности и наблюдать его при увеличении от 50 до 10 000 раз без дополнительной фокусировки. К сожалению, до сих пор в научной литературе отсутствуют работы по изучению микрорельефа глинистых минералов и их органических производных с помощью сканирующего микроскопа. [26]

Интересен дефектоскоп для контроля поверхности при дрессировке тонких листов, который измеряет шероховатость листов, движущихся с большой скоростью. Сканирующий луч создает в плоскости детектора изображение, состоящее из основного светового пятна и дифракционных полос, форма которых зависит от структуры исследуемой поверхности. Для того чтобы выделить световые сигналы, соответствующие дефектам поверхности, перед детектором помещают компенсационный фильтр. Благодаря непрозрачным участкам, которые по форме совпадают с дифракционным изображением поверхности нормального качества, не имеющей дефектов, фильтр задерживает сигналы, отраженные основной частью поверхности, и пропускает только сигналы от участка поверхности с дефектами. [27]

Дефектоскоп для контроля поверхности при дрессировке тонких листов измеряет шероховатость листов, движущихся с большой скоростью. Сканирующий луч создает в плоскости детектора изображения, состоящее из основного светового пятна и дифракционных полос, форма которых зависит от структуры исследуемой поверхности. Для того чтобы выделить световые сигналы, соответствующие дефектам поверхности, перед детектором помещают компенсационный фильтр. Благодаря непрозрачным участкам, которые по форме совпадают с дифракционным изображением поверхности нормального качества, не имеющей дефектов, фильтр задерживает сигналы, отраженные основной частью поверхности, и пропускает только сигналы от участка поверхности с дефектами. [28]

Другие микроденситометры, у которых блок для протяжки пленки не связан с самописцем, дают искаженные и невоспроизводимые результаты. Сканирующий луч, сфокусированный в плоскости пленки, должен иметь размеры примерно 4X0 05 мм. При таких размерах ( их можно добиться только с помощью цилиндрической конденсорной линзы) компенсируется зернистость пленки, в результате чего получаются более плавные кривые. [29]

Известно значительное число устройств развертывающего типа: MACK, АСМО, Луч, Силуэт. Круговое движение сканирующего луча ( см. рис. 6.1) упрощает систему преобразования. Устройство, выполненное по указанной схеме, может быть использовано и для преобразования полутоновой информации. При этом сканируется все поле изображения, выходной сигнал с ФЭУ является непрерывной функцией, которая может быть преобразована известными методами в дискретные цифровые отсчеты, определяющие значение яркости в отдельных точках изображения. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5