Рентгеновские лучей - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Жизнь уходит так быстро, как будто ей с нами неинтересно... Законы Мерфи (еще...)

Рентгеновские лучей

Cтраница 1


Рассеянно рентгеновских лучей обусловлено в основном электронами. Рассеяние от ядер атомов не учитывается ввиду его очень малой интенсивности. Здесь и далее под интенсивностью понимается интенсивность когерентного рассеяния. Предполагается, что поправки на некогсрентное рассеяние, поляризацию и поглощение уже учтены.  [1]

Данные рентгеновских лучей должны дополняться оптическими и химическими данными.  [2]

Дифракцию рентгеновских лучей используют для определения координации и взаимодействий типа ион - ион, ион - растворитель и растворитель - растворитель в водных растворах.  [3]

Интерференция рентгеновских лучей в жидкостях менее при-годна для исследования структуры молекул. Здесь в общем случае происходит междумолекулярная интерференция; интерференционная картина определяется главным образом тем, как расположены по отношению друг к другу целые молекулы.  [4]

Рассеяние рентгеновских лучей происходит главным образом от электронной оболочки атомов, и поэтому электронное облако лучше подходит для исследования распределения электронов, тогда как тяжелые ядра практически не участвуют в рассеянии. Наоборот, рас-сеяние электронных лучей производится главным образов ядрами атомов и служит более надежным средством для определения между-згдерных - расстояний.  [5]

Источниками рентгеновских лучей являются рентгеновские трубки, представляющие собой в простейшем случае двухэлектродные вакуумные приборы.  [6]

Дифракция рентгеновских лучей и электронов относится к числу наиболее широко используемых методов изучения структуры кристаллических твердых тел. Данные рентгеноструктурного анализе порошков и монокристаллов приводятся во многих работах по цеолитам.  [7]

Регистрация рентгеновских лучей, прошедших через сварное соединение, осуществляется эмульсией радиографической пленки. По способу применения пленки подразделяют на безэкранные и пленки, используемые с экраном.  [8]

Источником рентгеновских лучей служит рентгеновская трубка, а источником гамма-лучей - ампула с радиоактивным изотопом. Для просвечивания металлов и сварных соединений часто применяют радиоактивные изотопы кобальта и цезия.  [9]

Отражение рентгеновских лучей от некоторых веществ в области 7 - 44 А / / Оптика и спектроскопия.  [10]

Отражение рентгеновских лучей от некоторых веществ в области 7 - 44 А / / Оптика и спектроскопия.  [11]

Спектры рентгеновских лучей как абсорбционные, так и эмиссионные характеризуют в первую очередь атомы, отражая их энергетический уровень, который зависит от формы связи данного атома со всеми другими атомами, находящимися в молекуле.  [12]

Анализатором рентгеновских лучей в каждом из этих приборов служило устройство, состоявшее из 50 плоских, слегка повернутых друг относительно друга кристалликов кварца, вблизи отражающей поверхности которых располагали не прозрачный для рентгеновских лучей клин. Таким образом, каждый из кристаллов анализатора муль-тикристалл-спектрометров Дю-Монда и Киркпатрика отражал рентгеновские лучи в условиях, аналогичных тем, которые имеют место в спектрографах, работающих по методу Зеемана. Все 50 плоских кристалликов прибора ориентировали один относительно другого таким образом, чтобы монохроматические лучи после отражения их от поверхности кристалла пересекались в одной точке или в небольшой узкой области пространства. Это будет иметь место, если кристаллы расположены так, что продолжения их поверхностей ( в случае, представленном на рис. 1 а) или нормалей к ним ( рис. 1 6) пересекаются в одной точке.  [13]

Диффракция рентгеновских лучей от такой двухмерной изогнутой по цилиндру решетки была впервые теоретически рассмотрена В. Они показали, что в этом случае основной закономерностью, определяющей возникновение интерференционных максимумов, является соотношение, близкое к уравнению Брегга - Вульфа, справедливому для плоского кристалла.  [14]

15 Фибриллярное строение ориентированных полимеров ( ось ориентации вертикальная, электронная микроскопия. о - реплика с поверхности скола аморфного полимера - полиметилметакрилата ( вытяжка в 2 Г раза. б - реплика с поверхности застывшего расплава кристаллич. полимера - полиэтилена ( вытяжка в 9 раз. [15]



Страницы:      1    2    3    4