Рентгеновские лучей

Cтраница 2

Дифракция рентгеновских лучей под малыми углами для ориентированных полимеров ( ось ориентации вертикальна, первичный пучок направлен перпендикулярно оси ориентации полимеров): а - аморфный полимер - по-лиметилметакрилат ( вытяжка в 2 5 раза, малоугловые рефлексы отсутствуют); б - кристаллич. [16]

Дифракция рентгеновских лучей в жидкостях отличается от их дифракции в кристаллах. На рентгенограмме жидкости, полученной фотографическим методом, при длительных экспозициях вместо резких интерференционных линий, характеризующих структуру кристаллической решетки, обнаруживаются широкие дифракционные полосы с размытыми краями. При фотомет-рировании рентгенограмм получаются кривые интенсивности с несколькими максимумами. Расчетным путем по кривым интенсивности определяют ближний порядок атомов в жидкости. [17]

Преломление рентгеновских лучей существенно отличается от преломления света. Коэффициент преломления v у рентгеновских лучей при переходе из вакуума или воздуха в твердое тело ( или жидкость) меньше единицы, причем разность 1 - 8 очень мала. [18]

Для рентгеновских лучей с их малыми длинами волн поверхность любого тела является шероховатой. [19]

Источниками рентгеновских лучей служат специальные вакуумные приборы - рентгеновские трубки, в которых установлены электроды - катод ( источник электронной эмиссии) и анод, служащий источником электромагнитных волн при частоте колебаний около 3 1020Гц, что соответствует вышеуказанным длинам волн. Ударяясь о зеркальную поверхность анода, вследствие торможения электроны излучают электромагнитное поле, которое образует тормозное рентгеновское излучение с непрерывным спектром частот, а также характеристическое излучение с линейчатым спектром, образующееся вследствие глубинных процессов в электронных оболочках атомов вещества анода. Природными источниками ионизирующих излучений являются космические лучи и радиоактивные вещества, распределенные в недрах земли. [20]

Инструментальные функции, вызывающие искажения профиля дифракционного пика и определяющиеся. [21]

Проникновение рентгеновских лучей внутрь образца также приводит к размытию пика и сдвигу центра тяжести в направлении малых углов &. Конечная ширина аналитической щели и источника излучения приводит к симметричному размытию дифракционного пика. [22]

Дифракция рентгеновских лучей при их прохождении через вещество позволяет получить представление о взаимном расположении атомов вещества. Эта задача решается строго и практически однозначно в отношений характеристик дальнего порядка как простого, так и сложного по составу, но упорядоченного кристаллического вещества. Анализ центрального или малоуглового рассеяния позволяет исследовать неоднородности в распределении электронной плотности как в случае агломерата высокодисперсных частиц с произвольной внутренней структурой, так и в случае пористого тела ( кристаллического или аморфного), содержащего включения или, наоборот, пустоты. [23]

Для рентгеновских лучей соответствующая толщина имеет порядок 104 ячеек. [24]

Дифракция рентгеновских лучей включенными молекулами, меченными тяжелыми отражающими атомами ( например, атомами галогенов), непосредственно указывает на канальное расположение молекул и позволяет, к тому же, определять периодичность включений гостевого компонента, которая может и не находиться в простой зависимости с периодичностью структуры три-о-тимотида. [25]

Дифракция рентгеновских лучей имеет место как при прохождении их через кристалл, так и при отражении от него. Условие, необходимое для дифракции рентгеновских лучей, можно получить исходя из следующих соображений. [26]

Схема опыта Комптона. а - рентгеновская трубка и графитовая мишень, положение которой относительно пучка излучения из трубки можно было изменять, изменяя при этом угол рассеяния излучения на мишени. б - система коллиматоров, выделяющих рассеянное излучение. в - свинцовый контейнер, в котором расположена рентгеновская трубка. г - механический затвор, перекрывающий и открывающий пучок рассеянного излучения на выходе из контейнера, д - коллиматор, определяющий ширину пучка рассеянного излучения, падающего на дифракционную решетку. е - дифракционная решетка в виде кристалла кальцита. ж - ионизационная камера, в которой регистрировалось излучение. [27]

Источником рентгеновских лучей является анод рентгеновской трубки. Графитовая мишень устанавливается на оси коллиматоров. Положение трубки относительно мишени можно было изменять, изменяя тем самым угол рассеяния излучения. Рассеянное излучение, пройдя через систему коллиматоров и экранов, резко уменьшающих фон многократно рассеянного излучения, попадало на кристалл кальцита, игравший роль дифракционной решетки и разлагавшей спектр рассеянного излучения по длинам волн при небольшом изменении угла падения излучения на кристалл. [28]

Действие рентгеновских лучей на растущую ткань обычно изучалось сравнением скоростей роста до и после лечения. При этом проходит значительное время до того момента, когда можно установить, как повлияло облучение на рост. [29]

Интенсивность рентгеновских лучей, пропущенных через вещество, подлежащее исследованию, может быть изучена в разных точках последовательно одним из нескольких способов. [30]

Страницы: 1 2 3 4