Современный масс-спектрометр

Cтраница 2

В современных масс-спектрометрах используется метод двойной фокусировки: по скоростям и направлениям. [16]

В современных масс-спектрометрах электростатическое поле предшествует электромагнитному. На положительный ион, находящийся в электростатическом поле, действует сила в направлении данного поля. Траектория иона в поле при этом искривляется. В радиальном электростатическом поле, всегда перпендикулярном направлению пролета ионов, радиус кривизны траектории ионов зависит от энергии иона и напряженности электростатического поля. Электростатическое поле представляет собой анализатор энергии вместо анализатора массы и способствует ограничению рассеяния ионного пучка, перед тем как последний войдет в магнитное поле. [17]

В современных масс-спектрометрах измерения и вся первичная обработка измерительной информации ( управление работой, вычисление изотопных отношений и их погрешностей, внесение необходимых поправок, привязка к тому или иному стандарту, получение выборочных статистик и др.) Проводятся автоматически при помощи ЭВМ по специальным программам, что резко повышает производительность и точность измерений, исключает ручные рутинные операции и влияние субъективных факторов. Это позволяет эксплуатировать приборы широкому кругу специалистов. [18]

По принципу действия современные масс-спектрометры делятся на статические и динамические. [19]

В книге приведены характеристики современных масс-спектрометров и обсуждены области их применения. [20]

Такой чувствительностью не обладают даже современные масс-спектрометры, а поэтому на опыте приходится ограничиться измерением одной только энергетической стороны материального эффекта обычных химических реакций. [21]

Схема переходного устройства между газовым хроматографом ( ГХ и масс-спектрометром ( МС с переключением газовых потоков. [22]

Этот интерфейс был разработан с учетом высокой эффективности системы вакуумирования в современных масс-спектрометрах. [23]

Как уже говорилось выше, наиболее широко распространенным способом ионизации органических молекул в современных масс-спектрометрах является бомбардировка паров вещества электронами, или электронный удар. [24]

Методы разделения изотопов. [25]

Электромагнитный метод разделения был применен Томсоном [31 ] в 1911 г., что привело к открытию изотопов стабильных элементов. Современный масс-спектрометр основан на том же принципе. С помощью этого прибора установлено существование природных изотопов у 61 элемента, определены изотопные концентрации и массы. [26]

Решение сложных аналитических задач методами масс-спек-трометрии возможно лишь на основе современных масс-спект-ральных комплексов. Современный масс-спектрометр представляет собой систему функционально связанных друг с другом элементов, обеспечивающих введение образца в область ионизации, образование ионов, их разделение по массам, детектирование и регистрацию. [27]

Около 70 % всех элементов имеет несколько стабильных изотопов и могут, по крайней. Современные масс-спектрометры дают возможность анализировать металлы и тугоплавкие вещества при температурах вплоть до 2500; таким образом, теперь приготовление соединений с высокой упругостью пара при низкой температуре не так важно, как раньше. [28]

Наличие молекулярных сепараторов и возможность быстрой развертки спектра во всем диапазоне массовых чисел, представляющих интерес в данном конкретном случае, являются основными особенностями хромато-масс-спектрометрических приборов, наиболее часто применяемых в настоящее время. Среди современных масс-спектрометров имеются модели, позволяющие за 1 - 3 сек. Для регистрации масс-спектров с такой скоростью в настоящее время почти всегда используются малоинерционные регистраторы типа электронных или шлейфовых осциллографов. Последние часто имеют несколько шлейфов с разной чувствительностью. [29]

Ионный луч на пути следования от источника к фотопластинке управляется электрическим и магнитным полями. В современных масс-спектрометрах обеспечивается высокая степень откачки анализаторов; тем не менее в анализаторе происходят столкновения заряженных частиц с атомами и молекулами остаточного газа, которые изменяют траектории ионов или вызывают их перезарядку. В результате на определенных участках фотопластинки возникают полосы фона и размытые линии. При попадании ионов на фотопластинку образуются вторичные и третичные ионы, электроны и другие виды излучения, которые приводят к созданию интенсивного фона, особенно в районе основных масс и линий, прилежащих к ним. Все эти факторы определяют структуру искровых масс-спектров и должны быть тщательно проанализированы, прежде чем будут выделены составляющие, имеющие непосредственное отношение к исследуемому образцу. [30]

Страницы: 1 2 3