Cтраница 3
Схема эксперимента, демонстрирующего работу микромазера ( из работы Rempe, G., Schmidt-Kaler, F. and Walther, H. Phys. Rev. Lett. 64, 2783 ( 1990. [31] |
Чтобы получить крупномасштабное уравнение движения для приведенной матрицы плотности поля необходимо сложить вклады всех атомов, поступающих в резонатор в случайные моменты времени со скоростью га и взаимодействующих с полем излучения в резонаторе в течение фиксированного времени г до момента выхода из резонатора ( см. разд. [32]
В свою очередь это позволяет теперь вычислить приведенные матрицы элемента е, изображенного на рис. 4.2, для линейных, квадратичных и кубических базисных функций. [33]
Приступим теперь к выводу уравнений движения для приведенных матриц плотности. Как было показано в главе 3, выбор квазиравновесного распределения Qq ( i) является определяющим при решении цепочки уравнений для классических функций распределения. [34]
Граф и его остов. [35] |
Если циклы и коциклы выбирать специальным образом, то приведенные матрицы инциденций, циклов и коциклов будут иметь очень удобную форму. G - X2 xt, существует единственный цикл Zlt а в G - XI KJ, - 1, - единственный коцикл ZJ, и эти наборы циклов и коциклов образуют базисы в соответствующих пространствах. [36]
Выделение линий осуществляется путем свертки изображения с одной из приведенных матриц. Выбор матрицы соответствует направлению выделяемых линий. [37]
Этот факт достаточно полезен при вычислениях, поскольку тогда приведенную матрицу элемента ke для элементов высших степеней из данного примера можно с помощью дополнительных вычислений представить просто как ( 2 х 2) - матрицу. [38]
Аппарат введенных здесь функций Грина представляет собой соответствующую комбинацию формализма приведенных матриц плотности квантовой статистики и формализма функций Грина квантовой теории поля. Он позволяет в значительной степени осуществить формальное объединение релятивистской теории многих частиц, квантовой теории поля и нерелятивистской теории многих частиц. [39]
Информация о поведении и свойствах системы многих тел содержится в приведенных матрицах плотности, которые можно выразить через операторы вторичного квантования. [40]
Расчет упругих характеристик элементарного слоя содержит два этапа: определение характеристик приведенной матрицы за счет усреднения упругих свойств волокон, уложенных в направлении, перпендикулярном к плоскости слоя, со связующим; и расчет характеристик слоя исходя из упругих свойств волокон, параллельных плоскости слоя, и свойств модифицированной матрицы. Таким образом, последующий расчет деформативных характеристик слоистого материала определяется выбором направлений армирования, которые усредняются при модификации свойств матрицы или являются арматурой выделенного элементарного слоя. [41]
Полезно обратить внимание на место знака - в каждой из трех приведенных матриц. [42]
Расчет упругих характеристик элементарного слоя содержит два этапа: определение характеристик приведенной матрицы за счет усреднения упругих свойств волокон, уложенных в направлении, перпендикулярном к плоскости слоя, со связующим; и расчет характеристик слоя исходя из упругих свойств волокон, параллельных плоскости слоя, и свойств модифицированной матрицы. Таким образом, последующий расчет деформативных характеристик слоистого материала определяется выбором направлений армирования, которые усредняются при модификации свойств матрицы или являются арматурой выделенного элементарного слоя. [43]
Рассмотрим два примера, в которых для составления матрицы проводимостей схемы используют приведенные матрицы многополюсников. [44]
Алгоритм Литтла и др. использует нижнюю границу, основанную на применении свойств приведенной матрицы и процесса приведения. [45]