Место - расположение - образец
Cтраница 1
Место расположения образца внутри волновода имеет огромное значение. В частности, поверхность диэлектрика Ге ближайшая к измерительной линии, должна находиться точно в плоскости T. [1]
Первая линза фокусирует лучи источника в месте расположения образца, давая уменьшение примерно 1: 3 по сравнению с размерами изображения источника на входной щели, а вторая линза восстанавливает прежний ход лучей и апертуру пучка, которые имели место до установки линзовой приставки. [2]
Для подвода видимого и ультрафиолетового излучений к месту расположения образца может использоваться световод. [3]
Под однородностью подразумевают отсутствие градиентов магнитного поля в месте расположения образца. Стабильность означает, что напряженность магнитного поля не изменяется во времени. Для повышения однородности поля на наконечники полюсов магнита помещаются плоские катушки, по которым проходят слабые постоянные токи. [4]
Для волокон, диаметр которых меньше пли равен изображению щели в месте расположения образца, вряд ли можно рассчитать эффективную толщину слоя, если только диафрагма не настолько узка, что свет проходит только через центральную часть волокна. Для проведения количественных исследований волокно нужно поместить в иммерсионную жидкость, имеющую близкий к волокну показатель преломления, благодаря чему исключается отражение и преломление света на границе волокна. Сходимость светового пучка при этом становится настолько маленькой, что пучок можно рассматривать в первом приближении как параллельный. Тем не менее нужно еще внести поправку в значение толщины образца. [5]
 |
Кривые коррозия - время прокатной стали различных марок. [6] |
Все представленные на графиках кривые имеют ярко выраженный затухающий характер, независимо от географического места расположения образцов. Различие заключается лишь в количественных значениях потерь металла, вызванных атмосферной коррозией. [7]
На большой лабораторной установке температуры образцов измеряли хромель-алюмелевой термопарой, помещен ной непосредственно в месте расположения образцов, и также регистрировали. [8]
Работа с микроскопом вносит некоторые ошибки в экспериментально измеряемый дихроизм, что обусловлено спектральным разбавлением и большим углом сходимости пучка в месте расположения образца. Эти ошибки будут рассмотрены в следующем разделе. [9]
В термостате, куда помещаются образцы, должны быть предусмотрены устройства для принудительного перемешивания воздуха ( скорость 1 - 2 м / сек); перепад температур внутри термостата в местах расположения образцов не должен превышать 2 С, а точность поддержания температуры в термостате 2 С. [10]
После деформирования из полосы изготовляют образцы размерами 10 5 X 5 5 X 55 мм, а из металла толщиной более 11 мм - размерами 10 5 X 10 55 мм, так чтобы место расположения образцов находилось на участке расчетной длины, а на одной из граней сохранилась черновая поверхность. [11]
Знак поляризации пучка задается относительно вектора Н ведущего магн. Направление Н в месте расположения образца определяет пространственное. [13]
Их параметры подобраны из условий создания оптимального изображения в ИК-Диапазоне. Конденсор создает изображение выходной щели в месте расположения образца, уменьшенное в 8 5 раза, а объектив отображает образец с двадцатипятикратным увеличением на диафрагму. Предусмотрена система визуального контроля точной установки образца. Его максимальные размеры составляют 0 650x0 220 мм. Чтобы уменьшить нагрев и предотвратить фотохимические реакции, которые могут быть вызваны интенсивным потоком излучения, микроскоп помещается за выходной щелью монохрома-тора и освещается узким участком длин волн. Микроскоп пропускает около 35 % излучения, выходящего из монохроматора, для чего и используются полевые зеркала, обеспечивающие хорошую передачу энергии и позволяющие уменьшить число отражающих поверхностей. После микроскопа излучение поступает на отдельный приемник со своим предусилителем, усилителем и самописцем. Он используется только с однолучевыми спектрометрами в виде специальной приставки; сняв ее, можно использовать спектрометр в обычном варианте. [14]
Эллипс, как известно, имеет два фокуса, причем все лучи, исходящие из одного из них, собираются во втором фокусе. Поэтому излученная лампой световая энергия концентрируется эллиптическим отражателем в месте расположения образца. Поскольку в действительности лампа не является бесконечно тонкой, а имеет конечные поперечные размеры, то, строго говоря, через вторую фокальную линию будут проходить лишь лучи, проекция которых на поперечное сечение цилиндра перпендикулярна поверхности лампы. Другие лучи фокусируются неточно, и, следовательно, изображение лампы занимает некоторую область вблизи фокальной линии. Если диаметр активного элемента превышает поперечные размеры изображения источника, то эффективность системы будет максимальной. В противном случае часть лучей на образец не попадает. [15]
Страницы: 1 2