Cтраница 3
Этот метод является предпочтительным при измерениях проводимости и коэффициента Холла полупроводниковых пластин произвольной формы, однако в настоящей работе выбор методики был определен отсутствием других возможностей. Для доказательства однородности образцов при переходе от одной плоскости к другой производили оценку объемной доли металла методом количественной металлографии [6]; во всех случаях отклонения в оцениваемых величинах не превосходили 2 % от объема загрузки. [31]
Следует отметить, что в реальных материалах структуры являются весьма сложными стохастическими образованиями ( стохастическими фракталами), самоподобными только в среднем. Поэтому, например, однозначная корреляция между фрактальной размерностью структур материалов и их механическими характеристиками наблюдается не всегда. Для обстоятельного описания самоподобия природных и многих модельных структур недостаточно использования одной лишь величины фрактальной размерности. Широкие возможности в этом отношении представляет мультифрактальный формализм, основанный на использовании общего понятия меры. Это позволяет давать количественную оценку конфигурации исследуемой структуры в целом, а также вводить характеристики однородности и скрытой упорядоченности, что существенно дополняет традиционные методы количественной металлографии. [32]
Следует отметить, что в реальных материалах структуры являются весьма сложными стохастическими образованиями ( стохастическими фракталами), самоподобными только в среднем. Поэтому, например, однозначная корреляция между фрактальной размерностью структур материалов и их механическими характеристиками наблюдается не всегда. Для обстоятельного описания самоподобия природных и многих модельных структур недостаточно использования одной лишь величины фрактальной размерности. Широкие возможности в этом отношении представляет мультифрактальный формализм, основанный на использовании общего понятия меры. Это позволяет давать количественную оценку конфигурации исследуемой структуры в целом, а также вводить характеристики однородности и скрытой упорядоченности, что существенно дополняет традиционные методы количественной металлографии. Мультифрактальный анализ, открывающий путь к одному из новых методов количественной металлографии, методически при первом восприятии пока остается достаточно сложным, однако чрезвычайно перспективным для решения задач материаловедения. [33]
Следует отметить, что в реальных материалах структуры являются весьма сложными стохастическими образованиями ( стохастическими фракталами), самоподобными только в среднем. Поэтому, например, однозначная корреляция между фрактальной размерностью структур материалов и их механическими характеристиками наблюдается не всегда. Для обстоятельного описания самоподобия природных и многих модельных структур недостаточно использования одной лишь величины фрактальной размерности. Широкие возможности в этом отношении представляет мультифрактальный формализм, основанный на использовании общего понятия меры. Это позволяет давать количественную оценку конфигурации исследуемой структуры в целом, а также вводить характеристики однородности и скрытой упорядоченности, что существенно дополняет традиционные методы количественной металлографии. Мультифрактальный анализ, открывающий путь к одному из новых методов количественной металлографии, методически при первом восприятии пока остается достаточно сложным, однако чрезвычайно перспективным для решения задач материаловедения. [34]