Метод - дифракция - электрон
Cтраница 1
 |
Структура ферроцека, определенная в твердой фазе Днфрак. [1] |
Метод дифракции электронов позволяет получить точные дли-ч связей и углы для разнообразного множества изолированных элскул; некоторые данные приводятся в табл. 22 3, Прнменнтель - к поверхностям этот метод часто называют методом дифракции, гдленных электронов ( ДМЭ), с его помощью изучают, например, новной вопрос о конфигурации активР1Ь1Х центров адсорбции. [2]
Метод дифракции электронов ( в описанном здесь варианте) отличается от метода рентгеновских лучей тем, что дифракция обусловлена не электронными оболочками атомов, а их ядрами. [3]
 |
Структура ферроцена, определенная в твердой фазе Дифрак-нпей рентгеновских лучей ( о и в газовой фале дифракцией электронов ( б. [4] |
Метод дифракции электронов позволяет получить точные длины связей и углы для разнообразного множества изолированных молекул; некоторые данные приводятся в табл. 22 3, Применительно к поверхностям этот метод часто называют методом дифракцин медленных электронов ( ДМЭ), с его помощью изучают, например, основной вопрос о конфигурации активных центров адсорбции. [5]
Метод дифракции электронов поверхностью еще не имеет общего применения в том масштабе, в котором применяются рентгеновские лучи. [6]
Метод дифракции электронов позволяет получить точные длины связей и углы для разнообразного множества изолированных молекул; некоторые данные приводятся в табл. 22 3, Применительно к поверхностям этот метод часто называют методом дифракции, медленных электронов ( ДМЭ), с его помощью изучают, например, основной вопрос о конфигурации активных центров адсорбции. [7]
Метод дифракции электронов низкой энергии дает информацию о кристаллографической структуре поверхности. [8]
Методом дифракции электронов было установлено, что у тетра-галогенидов олова тетраэдрическая структура. [9]
 |
Структура Мо ( СО в. [10] |
Методом дифракции электронов было установлено, что в структуре гексакарбонила молибдена ( рис. 18) атом молибдена расположен в центре правильного октаэдра, в вершинах которого находятся группы СО. [11]
Методом дифракции электронов установлено, что WClfl имеет октаздрическую структуру и что расстояние W - С1 равно 2.26 А. [12]
Методом дифракции электронов было установлено, что все шесть групп СО расположены в вершинах октаэдра, в центре которого находится атом вольфрама. [13]
 |
Схема электронно-дифракционного изображения несовершенств. [14] |
Методом дифракции электронов получены данные об индивидуальных свойствах дийяокаций: характере их движения, взаимодействии друг с другом и дефектами других типов. Выяснены структурные изменения в металле, вызываемые закалкой и облучением, изучаются структура границ и процессы рекристаллизации материалов. [15]
Страницы: 1 2 3 4