Метод - дифракция - электрон
Cтраница 4
Броквэй и Дженкинс исследовали структуру тетраметилолова методом дифракции электронов [85]; было найдено, что длина связи олово - углерод составляет 2 18 0 03 А. [46]
Как правило, задачу определения строения методом дифракции электронов решают от противного: делается предположение о структуре и для нее затем рассчитывается дифракционная картина. Затем в структурные параметры вносят необходимые поправки и повторяют расчет. Таким путем добиваются полного совпадения рассчитанной и наблюдаемой кривой: параметры последнего расчета принимаются в качестве истинных. Поскольку атомы совершают колебательные и вращательные движения, этот метод позволяет определять только вероятность нахождения пары атомов в некотором интервале расстояний, а не точно на одном определенном расстоянии. Благодаря этому обстоятельству из данных по дифракции электронов в принципе могут быть получены величины колебательных амплитуд. [47]
Впервые строение N2F2 было исследовано Бауером [19] методом дифракции электронов. Рассматривая N2F2 как смесь двух изомеров, Бауер 11ашсл, что один из изомеров имеет цис -, а другой транс-расположение атомов фтора. [48]
Исследования пленок длинноцепочечных соединений на поверхностях металлов методом дифракции электронов и рентгеновских лучей показывают, что при температуре выше точки плавления объемной жидкости слои толщиной в 100 молекул являются структурированными. Вообще говоря, температура плавления и другие физические свойства относительно толстых пленок могут значительно отличаться от характеристик соответствующих объемных жидкостей [16] ( см. разд. [49]
Для изучения окисных пленок на массивных образцах применяется метод дифракции электронов на отражение. Другой электронограсрическип метод обычно применяется для исследования окисных пленок толщиной до нескольких сотен ангстрем, предварительно отделенных от металла. [50]
Важным методом изучения поверхностного слоя твердых тел является метод дифракции электронов. Этим методом показано, например, что на молекулярном уровне шлифовка приводит прежде всего к механическому истиранию поверхности без глубокого изменения ее кристаллической структуры, тогда как в результате полировки поверхности образуется довольно глубокий и практически аморфный слой, обычно называемый слоем Бейльби. Позднее Райзер [16] пришел к выводу, что слои Бейльби фактически являются микрокристаллическими, но размер этих мнкрокристаллов так мал, что получаемая интерференционная картина близка к картине, наблюдаемой для аморфного материала. [51]
 |
Фотография микрокристаллов NaCl, полученная с помощью сканирующего электронного микроскопа. ( С разрешения д-ра Р. Ф. Бэйкера. [52] |
Уже вскоре после того, как был разработан метод дифракции электронов, стало ясно, что, как и рентгеновские лучи, электроны относительно высокой энергии ( скажем, 50 кэВ) дают информацию о периодичности в объеме кристалла, тогда как электроны низкой энергии ( около 100 эВ), проникающая способность которых составляет всего несколько атомных диаметров, должны давать информацию о структуре поверхности твердого тела. Первая опубликованная экспериментальная работа ( Дэвиссон и Джермер [105], 1927 г.) была выполнена на пределе чувствительности. [53]
Страницы: 1 2 3 4