Метод - электронная дифракция
Cтраница 1
Метод электронной дифракции представляет интерес для расшифровки структур, особенно при наличии высокодисперсных фаз ( формирующихся карбидов, различных новообразований), линии которых невозможно измерить, а иногда и обнаружить при рентгенографическом анализе. Электронографию широко используют для изучения поверхностных слоев толщиной несколько нанометров, а также специально приготовленных тонких пленок. [1]
Метод электронной дифракции годится не только для определения структуры и состава тонких окисных пленок, но и может давать полезные сведения об ориентации в них кристаллов. Например, с помощью метода прохождения электронов, при котором пленка располагается нормально электронному лучу, от ориентированных кристаллов с осью зоны, перпендикулярной плоскости пленки ( наиболее распространенный случай), будут получены дифракционные кольца только от плоскостей, пересекающихся по оси зоны, а кольца от других плоскостей будут отсутствовать. Если ориентация кристаллов вокруг оси зоны беспорядочна, то кольца будут иметь равномерную - интенсивность. Если происходит частичная ориентация кристаллов, то получатся кольца от всех атомных плоскостей, но интенсивность их не будет соответствовать интенсивностям колец от плоскостей неориентированных кристаллов. [2]
Методом электронной дифракции обнаружено, что первоначально образуются кристаллиты с плотной гексагональной упаковкой, которые по мере увеличения толщины слоя принимают гранецентрированную кубическую структуру. [3]
Методом электронной дифракции установлено, что при трении кристаллическая структура поверхностного слоя металла превращается в аморфную. [4]
Методом селективной электронной дифракции было показано, что кристаллографические ячейки в утолщенных частях находятся в хорошем регистре с прежними - сохраняется расположение всех кристаллографических осей. Отжиг многослойных кристаллов не сопровождается образованием пор [99, 100], и вместо прежнего кристалла возникает одна утолщенная ламель. [5]
Исследование методом электронной дифракции первоначально показало [24], что в газовой фазе в основном присутствует заслоненная форма, но энергетический барьер вращения вокруг оси пятого порядка был оценен в 1 - 2 ккал / моль. При таком низком энергетическом барьере вращение следует учитывать и в твердом состоянии, если только здесь не появляются какие-либо специфические межмолекулярные эффекты. В растворе каждое кольцо молекулы ферроцена должно свободно вращаться относительно второго кольца той же молекулы, так как данные о диполь-ных моментах моно - и дизамещенных производных ферроцена [25] согласуются лишь с предположением о наличии свободного вращения в растворе. В связи с важным значением, которое придавалось возможным межмолекулярным эффектам в твердом состоянии, была исследована температурная зависимость термодинамических свойств [26] и спектров протонного магнитного резонанса [27, 28] кристаллического ферроцена. На кривой теплоемкости была обнаружена четкая точка перехода при 163 9 К; приблизительно в этой же области температур в спектре протонного магнитного резонанса наблюдается аномальное уменьшение ширины линии поглощения. [6]
Исследования методом электронной дифракции [10] показали, что пространственная структура молекулы уротропина построена из четырех циклогексано-вых колец в форме кресла, симметрично расположенных в молекуле. [7]
При исследовании методом электронной дифракции на специальной установке поверхностного слоя после шлифования, притирки и сверхдоводки обнаружено, что в каждом из них имеется три зоны. Первая зона характеризует пленку адсорбированных газов из атмосферы. Такая пленка прочно удерживается на металле даже при очистке и обезжиривании. [8]
Структура исследуется методом электронной дифракции на отражение для пленок непосредственно на поверхности нержавеющих сталей или на просвет для пленок, отделенных с поверхности. [10]
 |
Относительное изменение периода решетки Да / а в зависимости от диаметра d наночастиц золота Аи ( 1 и серебра Ag ( 2. [11] |
В [64] методом электронной дифракции обнаружили небольшое ( примерно 0 3 %) уменьшение параметра решетки наночастиц Аи диаметром 2 5 - 14 нм. [12]
Изучение свойств поверхности методом электронной дифракции показало, что часть двуокиси германия, которая образуется в ходе электролиза, остается на поверхности в виде тонкой пленки. Предполагается, что все необычные свойства протравленного электролитическим способом германия связаны с существованием этой окис-ной пленки. Совершенно иное поведение электролитически протравленных переходов во время первого цикла воздействия влаги ( см. фиг. [13]
Рентгеноструктурным анализом и методом электронной дифракции была выявлена кристаллическая структура этого слоя, напоминающая текстуру наклепанных металлов, на глубине нескольких микрометров. [14]
Исследования структуры смазочной пленки методом электронной дифракции подтвердили результаты, полученные при измерении трения. Первый молекулярный слой жирных кислот ориентирован своими цепями приблизительно нормально к поверхности. Последующие пленки на монослое обычно кристаллизуются в присущую жирным кислотам моноклиническую структуру со значительным углом наклона углеводородных цепей к поверхности. [15]
Страницы: 1 2 3 4