Метод - электронная дифракция
Cтраница 3
Некоторое время спустя Дженкинс и Холм [53], пользуясь методом электронной дифракции, показали, что при трении кристаллы графита ориентируются вдоль основных плоскостей спайности, открытых Брэггом. [31]
 |
Ориентация С-осей пачек углеродных слоев в углеродных волокнах, полученных из полиакрилнитрильного ( а и вискозного ( б сырья. [32] |
Учитывая, что глубина проникновения электронов в углеродное волокно-2000 А и методом электронной дифракции могут быть получены только усредненные по объему значения раз-ориентации углеродных слоев, следует признать, что сочетание этих методов позволяет изучить совокупность поверхностных и объемных характеристик структуры волокна. Выполненные эксперименты показали, что ориентация углеродных слоев ( вдоль оси волокна) на периферии волокна является более совершенной, чем в центральной зоне. Ориентацию пачек углеродных слоев по отношению к поверхности образца исследовали оптическим методом в поляризованном свете. [33]
Структура адамантана доказана ( кроме методов синтеза) измерением параметров молекулы методом электронной дифракции и рентгенографии. Молекула адамантана свободна от углового напряжения. Его структура нарушается с большим трудом. [34]
Молекулярная структура гексаме-тилентетрамина CeH12N4, установленная методом рентгеноструктур-ного анализа кристаллов и методом электронной дифракции паров. [35]
Все пентагалогениды возгоняются без разложения в атмосфере соответствующего галогена; в паровой фазе они мономерны. Методом электронной дифракции было показано ( хотя окончательно и не установлено), что они построены в виде тригональной бипирамиды. В кристаллическом состоянии NbCl5 является димером; его структура приведена на рис. ЗО. [36]
В 1952 г. обнаружено [117], что кремнеземистые пыли имеют постепенно переходящий в твердую сердцевину слой на поверхности частиц. Методом электронной дифракции показано [119], что кварц обладает поверхностным слоем аморфного кремнезема толщиной около 100 А, который удаляется обработкой HF, но затем при наличии влаги в окружающей среде образуется повторно. Уоддемс установил [120], что поверхность кварца в воде выделяет мозаичный кремнезем, по-видимому, в виде частиц коллоидного размера, так как эти частицы рассеивают свет. Это подтверждено другими авторами [121], которые обнаружили, что в нейтральной или в щелочной водной суспензии кварц образует как растворимый кремнезем, так и коллоидные, кристаллические по своей природе частицы размером 0 01 - 0 3 мкм. Кроме того, оказалось [122], что количество выделяемого кремнезема заметно больше, чем соответствует мономолекулярному слою, и что при последующих изменениях, происходящих в водной среде, это количество снижается. [37]
 |
Дефекты кристаллических решеток. [38] |
Основные отличия электронной дифракции от дифракции рентгеновских лучей и дифракции нейтронов заключаются в большей проникающей способности последних по сравнению с электронным излучением. Следовательно, метод электронной дифракции пригоден только для структурного анализа газов, тонких пленок или поверхностных слоев твердых тел. Но метод электронной дифракции имеет и свои достоинства, которые заключаются в возможности получения очень четкой дифракционной картины для веществ, присутствующих в микроскопических дозах; в возможности обнаружения легких атомов ( таких, например, как водород в органических соединениях) в составе веществ, состоящих из большого количества атомов. [39]
 |
Зависимость коэрцитивной силы от содержания никеля в Со-Nt - Р покрытиях. [40] |
С приводит к исчезновению столбчатости Фазовое строение покрытий определяется условиями проведения процесса химического восстановления и режимом последующей термической обработки. При изучении покрытий методом электронной дифракции оказалось, что они в исходном состоянии являются аморфными. [41]
 |
Влияние хрома на окалиностойкость железа при различных температурах и продолжительности испытания. [42] |
При Окислении 13 % - ной хромистой стали превращение шпинели в a - Fe2O3 происходит не при 225, а при 400 - 450 С. При исследовании тонких пленок методом электронной дифракции до температуры 700 С вюстита ( FeO) в окалине не обнаружено. Очевидно, что температуры превращения FeO - Fe2O3 значительно повышаются. [43]
Энергии связей и теплоту образования гексафторэтана полезно рассмотреть, исходя из данных о строении этого соединения. Все указанные значения получены методом электронной дифракции, который обычно менее точен, чем метод микроволновых спектров. Важно отметить, что расстояния между плоскостями, содержащими атомы фтора, которые принадлежат двум метальным группам, в этане, оказываются одинаковыми при всех этих определениях. [44]
Энергии связей и теплоту образования гексафторэтана полезно рассмотреть, исходя из данных о строении этого соединения. Все указанные значения получены методом электронной дифракции, который обычно менее точен, чем метод микроволновых спектров. Важно отметить, что расстояния между плоскостями, содержащими атомы фтора, которые принадлежат двум метальным группам в этане, оказываются одинаковыми при всех этих определениях. [45]
Страницы: 1 2 3 4