Метод - эллипсометрия
Cтраница 2
Очевидно, что адсорбция органического вещества на поверхности электрода изменяет обе величины п и d и, следовательно, может быть зафиксирована методом эллипсометрии. Если степень заполнения поверхности адсорбатом 61, то величины п и d характеризуют соответственно соедини показатель преломления и среднюю толщину слоя, состоящего из молекул воды и молекул органического вещества. Изменение величин п и d происходит не только в результате адсорбции или десорбции, но и при реориентации адсорбированных молекул органического вещества. [16]
Остановимся кратко лишь на некоторых, наиболее интересных с нашей точки зрения результатах. Так, методом эллипсометрии установлено, что зависимость толщины адсорбционного слоя от концентрации полимера для полистирола при 0-температуре характеризуется резким ростом в области низких концентраций с выходом на плато; начальный наклон кривой зависит от молекулярной массы. [17]
При оценке результатов опытов по набуханию жесткоцепных и сшитых полимеров следует учесть, что увеличение степени набухания может быть следствием не только более рыхлой упаковки макромолекул, но и наличия трещин, образующихся из-за действия внутренних напряжений, поскольку при этом растет поверхность полимера, доступная действию растворителя. При исследовании методом эллипсометрии поверхностных слоев различных каучуков на границе с воздухом и стеклом было обнаружено [143], что в первом случае плотность посрав-нению с объемом уменьшается, а во втором - увеличивается. Характерно, что после отслаивания плотность каучуков на поверхности остается измененной, хотя толщина этого слоя меняется. Этим же методом найдено, что плотность линейных полимеров на поверхности раздела ( толщиной до 1 мкм) ниже, чем в объеме, что обусловливает увеличение неравномерности загружения адгезионных связей и соответственно ускорение разрушения. [18]
Оптические константы пленок измерялись по длине волны 550 нм методом эллипсометрии; пленки Те С имели ПП 3 3, который близок к ПП пленок Те. [19]
Разработан метод двумерной ИК-спектроскопии [12], в котором спектр идентифицируется в результате корреляционного анализа динамических сигналов. Метод позволяет судить о взаимодействии между функциональными группами, об образовании водородных связей и о других, типах межмолекулярных взаимодействий. Примером служит двухмерный гетероспектр, получаемый отложением на оси ординат волнового чисда ИК-лучей, а на оси абсцисс - угла рассеивания рентгеновских лучей. Предложены приборы для реализации метода ИК-спектрометрической эллипсометрии [13], позволяющего проводить измерения толщины тонких пленок и оценивать характеристики материалов. [20]
 |
Зависимость доли связанных карбонильных групп от степени покрытия поверхности Э. [21] |
В большинстве опубликованных экспериментальных работ обсуждаются вопросы о конформации адсорбированных молекул, но ни в одной из них не применены какие-либо прямые методы определения конформации. В принципе такие методы могли бы быть разработаны на основе использования полимеров с мечеными концевыми группами, что позволило бы определять расстояние между концами цепей. Поэтому все рассуждения о конформации делаются либо на основании значений доли связанных сегментов, либо на основании данных о толщине адсорбционного слоя и сопоставлении этой толщины с размерами макромолекул в растворе. Имеется много работ, в которых различными физическими методами определяется толщина адсорбированного слоя полимера. Среди других методов наиболее широкое применение нашел метод эллипсометрии, по которому можно определить толщину адсорбционного слоя и концентрацию в нем полимера, поскольку адсорбционный слой содержит связанный растворитель. [22]
Структура поверхности может быть изучена различными методами. Расположение поверхностных атомов может быть определено дифракцией, если используемое излучение имеет низкую про-ликающую способность. Как указано в разд. Он особенно часто используется для сравнения поверхностей до и после адсорбции газов. Отражение видимого света также может быть использовано для получения некоторой информации о поверхности, даже если его длины волн значительно больше, чем используемые для дифракции. Метод эллипсометрии основан на исследовании изменений поляризации света, отраженного от поверхности, и используется для определения степени покрытия поверхностей примесями и толщины адсорбированных слоев. [23]
Структура поверхности может быть изучена различными методами. Расположение поверхностных атомов может быть определено дифракцией, если используемое излучение имеет низкую про-ликающую способность. Как указано в разд. Он особенно часто используется для сравнения поверхностей до и после адсорбции газов. Отражение видимого света также может быть использовано для получения некоторой информации о поверхности, даже если его длины волн значительно больше, чем используемые для дифракции. Метод эллипсометрии основан на исследовании изменений поляризации света, отраженного от поверхности, и используется для определения степени покрытия поверхностей примесями и толщины адсорбированных слоев. [24]
Страницы: 1 2