Электронографический метод

Cтраница 1

Электронографический метод широко используют также при определении строения молекул газа. На рис. 3.14 схематически показано, каким образом возникает дифракционная картина; точно так же происходит и рассеяние волн двухатомными молекулами. Молекулы газа имеют разную ориентацию, в связи с чем дифракционная картина получается несколько расплывчатой. Она представляет собой серию колец. Если известна длина волны электронов, то, измерив диаметры этих колец, можно рассчитать межатомные расстояния в изучаемых молекулах. [1]

Электронографический метод благодаря малой длине волны рассеянных электронов, ускоренных напряжением 40 - 100 кВ, и сильному взаимодействию электронов с веществом применяют для исследования ультратонких слоев и малых по размерам кристаллов. [2]

Электронографический метод пригоден также для исследования систем, представляющих собой кристаллические вещества в форме микрокристалликов, распределенных в малых концентрациях в каком-либо аморфном носителе. Рентгеновский метод в подобных случаях иногда оказывается недостаточно чувствительным. [3]

Электронографический метод [31] по сравнению с рентгенографическим имеет ряд особенностей. Рассмотрим важнейшие из них. [4]

Электронографический метод [40], [41] по сравнению с рентгенографическим имеет ряд особенностей. Рассмотрим важнейшие из них. Длина пробега электронного луча меньше рентгеновского, так как в кристалле он быстро поглощается. Поэтому электронный луч, в отличие от рентгеновского, направляется под очень малыми углами 0 к плоскости hkl, по которой луч как бы скользит. Углы так и называются углами скольжения. При этом удается исследовать строение поверхностных слоев кристаллов, что в полупроводниковой технике представляет самостоятельный интерес ввиду большой роли поверхностных состояний и влияния на них сорбированных примесей, а также ввиду бурного развития пленочной микрорадиоэлектроники. [5]

Электронографический метод был применен, например, для определения структуры молекул тетра-фторида ксенона. Было установлено, что газообразная молекула XeF4 имеет форму квадрата с атомом ксенона в центре. [6]

Электронографический метод, весьма удобный для изучения аморфных тел, однако, также дает лишь средние значения величин частиц. [7]

Изменение толщины пленки ( А с изменением потенциала и по-тенциостатическая кривая ( Е стали - Х9Н23МЗДЗ - в 35 % - ной H2SO4. [8]

Электронографический метод используют для определения состава и структуры пленок путем съемки на отражение или на прохождение через тонкие прозрачные пленки, отделенные с поверхности металла. [9]

Электронографический метод широко применяют также для определения строения газовых молекул. На рис. 47 схематически показано, каким образом возникает дифракционная картина; точно так же происходит и рассеяние волн двухатомными молекулами. Молекулы газа имеют различную ориентацию, и дифракционная картина соответственно получается несколько расплывчатая. Она представляет собой серию колец. Если известна длина волны электронов и путем измерений установлены диаметры этих колец, то можно рассчитать межатомные расстояния в изучаемых молекулах. За время, прошедшее после того, как стали применять электронографи-ческий метод, удалось установить с его помощью строение сотен различных молекул. [10]

Электронографический метод подобен рентгенографическому и основан на взаимодействии потока электронов с веществом. Поток электронов при прохождении через вещество напоминает электромагнитное излучение с очень небольшой длиной волны и дает дифракционную картину. [11]

Электронографический метод обладает меньшими возможностями при изучении органических соединений, так как для подбора молекулярной модели, отвечающей снятой электронограмме, необходимо пользоваться данными о строении молекул, полученными другими методами, и число независимо определяемых геометрических параметров, как правило, не превосходит трех. [12]

Электронографический метод также дает два ряда значений: межатомные расстояния гт, получаемые из максимумов на кривой радиального распределения, и rg, получаемые из рассмотрения центров тяжести ( gravity) пиков на той же кривой. Величины rg, по крайней мере, когда они получены в одной и той же лаборатории, как пишет Лайд [ 26, стр. Эти разницы выходят за пределы возможных экспериментальных ошибок. [13]

Электронографический метод широко используют также при определении строения молекул газа. На рис. 3.17 схематически показано, каким образом возникает дифракционная картина; точно так же происходит и рассеяние волн двухатомными молекулами. Молекулы газа имеют разную ориентацию, в связи с чем дифракционная картина получается несколько расплывчатой. Она представляет собой серию колец. Если известна длина волны электронов и измерены диаметры этих колец, то можно рассчитать межатомные расстояния изучаемых молекул. [14]

Электронографический метод [5, 6] наиболее целесообразно использовать для изучения твердых веществ, встречающихся только в высокодисперсном состоянии и поэтому малодоступных для рентгенографии, однако можно применять его вообще для расшифровки атомного строения любых соединений -, образцы которых могут быть приготовлены в виде тонких пленок. Большую специальную область представляет собой электронография молекул в газах. Дифракция электронов успешно применялась и для анализа структуры жидкостей, аморфных тел, полимеров. [15]

Страницы: 1 2 3 4