Cтраница 4
В последние годы электронографический метод используется, особенно русскими авторами, для определения положений легких атомов в кристаллах, содержащих значительно более тяжелые атомы. Поскольку быстрые электроны рассеиваются ядрами, а не орбитальными электронами, атомы с большими атомными номерами не являются единственным фактором, определяющим положение, как это имеет место в случае дифракции рентгеновских лучей. [46]
Наряду с рентгенографией электронографический метод применяется для изучения структуры гетерогенных катализаторов. [47]
Таким образом, электронографический метод основан на том, что дифракционная картина, получаемая при рассеивании электронов парами исследуемых соединений ( а также тонким кристаллическим порошком), дает сведения о расположении отдельных атомов в молекулах, что позволяет рассчитывать также межатомные расстояния и валентные углы. [48]
В пределах точности современного электронографического метода для больших молекул: 2 - 3 для валентных углов, 0 001 - 0 002 нм - для межъядерных расстояний. [49]
Диметилциклосилазаны были изучены электронографическим методом, в результате чего были определены длина связи Si-N, равная 1 78 О. [50]
Изучение пассивных поверхностей электронографическим методом показало, что на них существует микрокристаллическая пленка. [51]
В последнее время структурным электронографическим методом Каргин и Маркова [7, 8] исследовали линейные полиамиды с различными длинами полиметиленовых отрезков между пептидными связями и степенью регулярности расположения этих отрезков в цепи, а также исследовали ряд сополимеров хлорвинилидена с хлорвинилом, различающихся соотношением компонентов ( от 100 до 75 % хлорвинилидена) и регулярностью строения цепи. Оказалось, что вся группа полиамидов дает весьма сходные картины дифракции электронов. Такой же результат получился и для всей группы сополимеров хлорвинилидена с хлорвинилом. Этот результат указывает на резкое отличие кристаллов полимеров от низкомолекулярных кристаллов. Хорошо известна зависимость структуры кристаллов низкомолекулярных гомологов ( например, жирных кислот, спиртов, парафинов) от длины молекулы, что представляется совершенно естественным. Однако такая зависимость отсутствует у полимеров. [52]
Rij), измеряемое электронографическим методом. [53]