Метода - электронография
Cтраница 1
Методы электронографии вследствие малой проникающей спо - - собности электронного пучка позволяют детально исследовать только поверхность частиц дисперсной фазы коллоидных систем л макромолекул высокомолекулярных веществ. Этот метод исследования особенно пригоден для изучения адсорбционных слоев. [1]
Методы электронографии вследствие малой проникающей спо - - собности электронного пучка позволяют детально исследовать только поверхность частиц дисперсной фазы коллоидных систем и макромолекул высокомолекулярных веществ. Электронография позволяет непосредственно определить расстояния между отдельными атомами, лежащими на поверхности, на основании чего можно найти другие параметры структуры вещества. Этот метод исследования особенно пригоден для изучения адсорбционных слоев. [2]
Методы электронографии вследствие малой проникающей спо - - собности электронного пучка позволяют детально исследовать только поверхность частиц дисперсной фазы коллоидных систем л макромолекул высокомолекулярных веществ. Этот метод исследования особенно пригоден для изучения адсорбционных слоев. [3]
Методы электронографии целесообразно сочетать с рентгенографическим анализом. При этом обычно удается получить достаточно сведений о внутренней структуре дисперсной фазы коллоидных систем и растворов высокомолекулярных веществ, а также об изменениях, наступающих в этой структуре в результате нагревания, деформации, набухания и тому подобных воздействий. [4]
Методы электронографии обычно используют для структурного анализа очень тонких пленок ( толщиной порядка 0 01 мкм) и порошков, а также поверхностных слоев массивных образцов. В соответствии с этим существуют два метода работы: на просвет и на отражение. В связи с очень сильным взаимодействием электронов с веществом съемку на отражение проводят в пучке электронов, скользящем вдоль поверхности объекта. При этом наиболее вероятным является рассеяние электронов на мельчайших выступах поверхности объекта. В случае травленых шлифов гетерогенных сплавов преимущественное вытравливание одной из фаз может привести к тому, что на электронограмме возникнет система линий только одной фазы даже при малом содержании этой фазы в объеме образца. [5]
Методами электронографии в работе [3] идентифицирована б - фаза, ранее неизвестная. Ее структура относится к типу А4 ( алмазная кубическая), а 17.34 А. В этой же работе [3] найдена переходная фаза, однако она не идентифицирована. Полученные в работе данные не были подтверждены другими методами исследования. [6]
В методе электронографии используется явление дифракции электронов на молекулах. Электроны, как и все другие микрочастицы, обладают волновыми свойствами. Поэтому при встрече пучка электронов, характеризуемых длиной волны де Бройля А, с препятствием, имеющим размеры того же порядка, что и Я, возникает дифракционная картина, соответствующая этой длине волны. [7]
 |
Схема устройства электронографа. [8] |
В методе электронографии используется явление дифракции электронов на молекулах. Электроны, как и все другие микрочастицы, обладают волновыми свойствами. [9]
В методе электронографии V и V V - - Л17 обозначают среднее значение рассеивающего потенциала ( в алмазе V - 19 4 В [36]) и его изменение в радиальном направлении. [10]
Внутреннее строение частиц загустителя определяют, используя методы электронографии и рентгеноструктурного анализа. Эти же силы определяют связь между собой отдельных волокон, образующих структурный каркас смазки. [11]
Строение Ве ( ВН4) 2 изучено методами электронографии в газовой фазе, ИК-спектро-скопин ( в матрице инертного газа), проведены также пеэмпнрпческие расчеты. В результате получено множество. Было сделано предположение, что для молекулы в газовой фазе имеется несколько выгодных копфор-мацнй. В молекуле А1 ( ВН4) з [5] атом металла окружен шестью атомами Н по вершинам триго-налыюй призмы ( рис. 24.23, в), А1 - В 2, 14 А. [12]
Эти данные были дополнены другими авторами7, применившими методы электронографии, рентгенографии и электронной микроскопии. Возможно, что из-за несколько отличающихся условий они не обнаружили Ag2O в дымах серебра, а в дымах Fe2O3 нашли лишь - модификацию. [13]
Эти данные были дополнены другими авторами7, применившими методы электронографии, рентгенографии и электронной микроскопии. Возможно, что из-за несколько отличающихся условий они не обнаружили Ag20 в дымах серебра, а в дымах Fe203 нашли лишь - модификацию. [14]
Однако последующие исследования функций радиального распределения, полученных методами электронографии и рентгенографии / 125 /, поставили под сомнение выводы авторов / 123, 124 / и выявили лишь локальную упорядоченность в расположении участков молекул, по сути дела ничем не отличающуюся от ближнего порядка в структуре простых низкомолекулярных жидкостей. [15]
Страницы: 1 2 3