Cтраница 3
Поэтому ввиду высокой лабильности молекулы НООН наиболее адекватными данными о ее структуре следует считать результаты квантово-химических расчетов ab initio наряду со сведениями об экспериментальных величинах углов и связей, полученных в газовой фазе методами электронографии ( ЭГ), микроволновой и ИК-спектроскопии. [31]
Для такого анализа достаточно несколько миллиграммов вещества. Еще более чувствительны методы электронографии, наиболее пригодные для исследования структуры тонких слоев, пленок, молекул в парах. Методы электронографии освещены в докладе В. Л. Карпова ( см. стр. [32]
Рентгено - и электронографические методы позволяют легко обнаружить степень ориентации кристаллов в поликристаллитах. Но в некоторых случаях образуются и ориентированные системы. Причем, как показывает Данков [53], использовавший методы электронографии, ориентация кристаллов в смешанных катализаторах, в катализаторах с промоторами или в катализаторах, нанесенных на подложку, определяется принципом кристаллохимиче-ского соответствия между двумя твердыми фазами. [33]
Рентгено - и электронографические методы позволяют легко обнаружить степень ориентации кристаллов в поликристаллитах. Но в некоторых случаях образуются и ориентированные системы. Причем, как показывает Даиков [53], использовавший методы электронографии, ориентация кристаллов в смешанных катализаторах, в катализаторах с промоторами или в катализаторах, нанесенных на подложку, определяется принципом кристаллохимиче-ского соответствия между двумя твердыми фазами. [34]
Научные исследования относятся к физической и коллоидной химии. Установил морфологию, молекулярную структуру и энергетику поверхностей многих твердых тел, широко используя методы электронографии. [35]
Электронно-зондовые методы контроля КМ используют принцип взаимодействия электронного пучка с твердым телом. Электроны, прошедшие через образцы толщиной в несколько Микрометров, являются источником информации в просвечивающей ( трансмиссионной) электронной микроскопии ПЭМ; отраженные медленные электроны - в методе зеркальной электронной микроскопии ( ЗЭМ), а электроны, претерпевшие дифракцию - в методе электронографии на отражение. [36]
Большой интерес поэтому представляют методы, не требующие снятия слоев. Данные о структуре металла на разной глубине можно получить путем изменения проникающей способности рентгеновских лучей разной длины волны и изменения угла падения лучей на исследуемую поверхность. В [43] был разработан метод исследования структуры твердых тел, получивший название метода скользящего пучка рентгеновских лучей, который позволяет исследовать предельно тонкие слои металла ( толщиной 10 - 4 - 10 - 6 см), занимающие промежуточное положение в случае применения стандартных рентгеновских методик и обычных электронных пучков в методе электронографии. Таким образом, представляется возможность исследовать структурные изменения по глубине металла без какой-либо дополнительной обработки поверхности, неизбежно искажающей результаты исследования, и получить сведения о структуре и свойствах приповерхностных слоев металла, которые до сих пор фактически отсутствуют. [37]
Дифракция всецело обусловливается волновыми свойствами этих лучей. Поэтому существование дифракции электронов подтверждает наличие у них волновых свойств. В СССР оно впервые было исследовано П. С. Тартаковским в том же году. Позднее был разработан основанный на этом явлении метод электронографии, аналогичный методу рентгенографии, получивший в настоящее время широкое применение для исследования строения молекул и кристаллов. На рис. 5 представлена электронограмма молекул CS2 - Подобное же явление дифракции нейтронов послужило основой для разработки метода нейтронографии, также имеющего практическое использование. [38]