Рентгеновский микроанализатор

Cтраница 2

Совершенствование методов металлографического и химического фазового анализа чугуна [2,68], широкое применение электронного зондирования фаз на рентгеновских микроанализаторах [69] позволили в последние годы детально изучить распределение основных компонентов и примесей между фазами и в фазах чугуна. [16]

Важную информацию получают при исследовании поверхности излома цементного камня методами электронной микроскопии, особенно растровой электронной микроскопии в сочетании с рентгеновским микроанализатором. Эти методы позволяют наблюдать форму и размеры кристаллов при увеличении в 50 - 100 тыс. раз, характер их взаимного расположения и срастания, форму и размер пор. [17]

Важную информацию получают при исследован in поверхности излома цементного камня методами электронной микроскопии, особенно растровой электронной микроскопии в сочетании с рентгеновским микроанализатором. [18]

Судпромгиз, 1963 и др.) - Однако в 1965 г. использование наиболее объективного и современного метода исследования химической неоднородности с помощью рентгеновского микроанализатора позволило обнаружить сульфидные прослойки в сварных швах, образующие сетку по границам первичных кристаллов ( Г. И. Парфесса, В В. [19]

Рентгеноепектральный микроанализ основан на возбуждении электронным зондом характеристич. Рентгеновские микроанализаторы создают на основе просвечивающих и растровых электронных микроскопов. Они состоят из электронной пушки с системой линз для формирования электронного зонда, рентгеновского спектрометра, к-рый разлагает излучение в спектр и преобразует его в электрич. В приборе поддерживается высокий вакуум. В; абсолютные и относит, пределы обнаружения соотв. Объем образца, к-рый можно анализировать данным методом, зависит гл. [20]

Рентгеноспектральный микроанализ основан на возбуждении электронным зондом характеристич. Рентгеновские микроанализаторы создают на основе просвечивающих и растровых электронных микроскопов. Они состоят из электронной пушки с системой линз для формирования электронного зонда, рентгеновского спектрометра, к-рый разлагает излучение в спектр и преобразует его в электрич. В приборе поддерживается высокий вакуум. В; абсолютные и относит, пределы обнаружения соотв. Объем образца, к-рый можно анализировать данным методом, зависит гл. [21]

Разрешение растровых микроскопоЕ определяется диаметром пучка и видом используемого излучения. Так, в рентгеновских микроанализаторах, использующих для образования изображения характеристическое рентгеновское излучение, разрешение не превышает 0 5 - 1 мкм. При получении изображения в электронных лучах оно достигает 20 - 50 мкм. [22]

Микроскоп может использоваться совместно с рентгеновским микроанализатором. [23]

Микроскоп может использоваться вместе с рентгеновским микроанализатором. [24]

Структура сплава ВЖЛ12У. [25]

Основное упрочнение создается частицами f - фазы на основе соединения Ni3 ( Al, Ti), выделяющимися в виде кубиков, как когерентно связанных с матрицей, так и имеющих на отдельных участках дислокационную границу раздела; дополнительное - карбидами и бори дами, выделяющимися в виде оторочек внутри зерна по осям дендритов и по границам зерен. Изучение распределения легирующих элементов на рентгеновском микроанализаторе показало, что оси дендритов обогащены более тугоплавками элементами и фазами, образующимися в процессе затвердевания. [26]

Основную роль играют методы, использующие вторичное ( флуоресцентное) излучение. Особое место занимают рентгеновские квантометры и рентгеновские микроанализаторы. [27]

Основан на катодолюминесценции - разновидности люминесценции, возбуждаемой электронным пучком и возникающей вследствие излучателыюй рекомбинации электронно-дырочных пар или внутрицент-ровых переходов. Проводят с помощью электронных микроскопов или рентгеновских микроанализаторов ( см. Элек-троннозондовые методы), оснащенных катодолюминес-цейтными приставками. Локальность зависит от параметров микрозонда и физ. [28]

На основе изложенной теории А.Л. Меркуловым была создана программа расчета магнитного поля в аксиально-симметричных системах. Такие системы применяются в качестве электронных линз в электронных микроскопах и рентгеновских микроанализаторах. [29]

Метод рентгеновского микроанализа ( фотоэлектронной спектроскопии) основан на том же принципе, что и метод Оже-спектроскопии, только для этого метода выбивание электронов с нижних уровней достигается облучением поверхности не электронами, а жестким рентгеновским излучением. Этот метод обладает большей разрешающей способностью по энергиям вторичных электронов, и благодаря этому при помощи рентгеновского микроанализатора можно установить валентное состояние одного и того же элемента в различных поверхностных соединениях. [30]

Страницы: 1 2 3