Рентгеновский микроанализатор
Cтраница 3
Метод рентгеновского микроанализа ( фотоэлектронной спектроскопии) основан на том же принципе, что и метод Оже-спектроскопии, только для этого метода выбивание электронов с нижних уровней достигается облучением поверхности не электронами, а жестким рентгеновским излучением. Этот метод обладает большей разрешающей способностью по энергиям вторичных электронов, и благодаря этому при помощи рентгеновского микроанализатора можно установить валентное состояние одного и того же элемента в различных поверхностных соединениях. [31]
 |
Изменение затухания ультразруковых колебаний и упругости. [32] |
Выявленное распределение Si в структуре высокопрочного чугуна металлографическим методом подтверждено и методом рентгеноструктур-ного фазового анализа. На рис. 2.36 и 2.37 приведены результаты исследований структуры высокопрочного чугуна в литом состоянии и после ТО, выполненных с помощью рентгеновского микроанализатора МАР-1М. [33]
Рассматривая возможности применения такого микроскопа [38], можно выделить две области спектра: коротковолновую ( 0 1 - 0 5 нм), которая интересна в плане микроструктурного анализа материалов ( металлы, сплавы), и длинноволновую ( 0 5 - 5 0 нм), которая включает полосы поглощения важных для биологии легких элементов О, N, С. Выделяя с помощью фильтров или узкополосных многослойных покрытий линии определенных элементов, можно получить карту их распределения по образцу, как это делается в рентгеновских микроанализаторах, но со значительно меньшей радиационной нагрузкой. При таких исследованиях достоинствами сканирующего микроскопа являются одинаково высокое разрешение по неограниченному полю зрения, отсутствие ограничений, связанных с конечным размером ячеек детектора, и удобство непосредственной оцифровки как координат освещаемой точки объекта, так и интенсивности прошедшего света. [34]
У микроскопа имеются приставки для охлаждения до - 170 С и нагревания до 1100 С. Вместе с соответствующей приставкой микроскоп может работать как сканирующий, при этом достигается разрешение в растрово-просвечи-вающем режиме 3 нм и в режиме вторичной электронной эмиссии 100 нм. Микроскоп используется совместно с рентгеновскими микроанализаторами. Изображение, получаемое в электронном микроскопе, дублируется на телевизионном экране, который повышает степень увеличения изображения и помогает рассмотреть его более тщательно. [35]
Основан на катодолюминесценции - разновидности люминесценции, возбуждаемой электронным пучком и возникающей вследствие излучательной рекомбинации электронно-дырочных пар или внутрицент-ровых переходов. Проводят с помощью электронных микро-скопов или рентгеновских микроанализаторов ( см. Элек-троннозондовые методы), оснащенных като долгом инее-центньши приставками. Локальность зависит от параметров микрозонда в физ. [36]
Места пленки, находившиеся в зоне локализации радиоактивного изотопа, засвечиваются и после ее проявления темнеют. Пленку с засвеченными местами качественно и количественно анализируют под микроскопом. Авторадиографический анализ по характеру даваемой информации близок к рентгеновскому микроанализатору. [37]
Преимуществами автоэлектронных эмиттеров являются отсутствие энергетич. Автоэмиссионный эмиттер в качестве интенсивного точечного источника электронов применяется в растровых микроскопах. Он перспективен в рентгеновской и обычной электронной микроскопии, в рентгеновской дефектоскопии, в рентгеновских микроанализаторах и электронно-лучевых приборах. Автоэмиссионные эмиттеры могут также употребляться в микроэлектронных устройствах и в чувствит. [38]
Для локального анализа может быть использована регистрация электромагнитного излучения в оптическом диапазоне при электронно-зондовом возбуждении. В основе метода лежит образование электронно-дырочных пар и их последующая излучатель-ная рекомбинация. Аппараты для микрокатодолюминесцентного анализа могут быть построены на базе любого рентгеновского микроанализатора или растрового электронного микроскопа. Локальность растрового микрокатодолюминесцентного анализа зависит от свойств исследуемого образца. Этот метод более селективен при определении примесей, дающих глубокие уровни в запрещенной зоне, и в ионных кристаллах. [39]
При проведении количеств, анализа сопоставляют измеренную интенсивность ( 7) характеристич. РС Сур где Р - поправочный, коэф. Для расчетов Р чаще всего используют микро - ЭВМ, установленные на выходе рентгеновских микроанализаторов. [41]
Если объект представляет собой монолит, то проводят его локальный или послойный анализ без предварительного разрушения. С помощью специальных технических приемов можно получить на телевизионном экране или фотопленке увеличенное изображение поверхности объекта, образованное ионами выбранного элемента. Повернув ручку настройки масс-анализатора, получают изображение того же участка поверхности, образованное ионами другого элемента. Набор таких фотоснимков представляет собой полную топографию интересующих элементов в выбранной области поверхности образца. Прибор, работающий по - такому принципу, называется ионным микрозондом и является аналогом электронного микрозонда, или электронно-зондового рентгеновского микроанализатора ( см. гл. Его преимуществами являются более высокая чувствительность, особенно к легким элементам, а также возможность изучать не только элементный, но и изотопный состав образца. [42]
Страницы: 1 2 3