Электронная микродифракция

Cтраница 1

Электронная микродифракция показала, что, несмотря на использование металлической подложки, в составе усов не обнаружены примеси металлов или соответствующих им карбидов, ционные исследования показали, что, хотя имеется разориентировка кристаллитов, базисные плоскости графита вытянуты вдоль направления роста графитовых усов, что их высокую прочность на разрыв. [1]

Картины электронной микродифракции [6] показывают, что при образовании субокислов ( сверхструктур внедрения) решетка атомов становится тетрагональной со степенью тетрагональности, большей единицы. [2]

Во-вторых, электронная микродифракция является составной частью комплексного электронно-микроскопического исследования, в котором электронограммы дают исходную информацию, необходимую для истолкования контраста электронно-микроскопического изображения и, наоборот, когда выявляемые в электронно-микроскопическом изображении детали структуры могут служить для однозначной трактовки дифракционных эффектов. Наконец, существенные особенности дифракционной картины и дифракционного контраста возникают в высоковольтных электронных микроскопах; эти особенности обсуждаются в гл. [3]

Методами малоуглового рассеяния рентгеновских лучей и электронной микродифракции было показано, что само выделение у - фазы содержит дефекты упаковки. Однако по мере роста частиц фазы структура ее становится более совершенной. Из-за различия в структуре у никогда не бывает полностью когерентна и на поверхности раздела должны быть частичные дислокации, что уменьшает напряжения решетки. [4]

Электронографическое исследование состоит в изучении дифракционной картины ( электронная микродифракция), получаемой с поверхности данной фазы в результате взаимодействия атомов, входящих в состав этой фазы, с пучком электронов. Метод микродифракции является одним из наиболее эффективных методов определения фазового состава сплавов. [5]

Изложенное выше хорошо подтверждается исследованиями сростков кристаллов гидросиликатов кальция методом электронной микродифракции. Лауэграммы ( см. рис. 2.5) и микродифракто-граммь: контактной зоны говорят о простом наложении кристаллических решеток сопрягающихся кристаллов, что обусловлено, как и для Са ( ОН) 2, возникновением этих сростков в процессе зароды-шеобразования, а не при срастании взрослых кристаллов. [6]

Структура 6-фазы из работы [3] идентифицирована в работе [10] методом электронной микродифракции в сплаве, содержащем 23 9 % ( ат. Этот вывод подтвержден в работе [11], по данным которой б-фаза в сплаве с 25 % ( ат. А, с 4 62 А, и в работе [12], согласно которой в сплаве с 37 2 % ( ат. [7]

Новым методом непосредственного изучения адсорби - - рованных фаз может явиться метод электронной микродифракции. [8]

Некоторые сечения обратной решетки, изображенные на рис. 25, Ад, наблюдались ранее на картинах электронной микродифракции, полученных от фолы сплава Та - 1 5 ат. В работе [78] на основании нескольких сечений обратной решетки было сделано предположение, что все структурные векторы обратной решетки ( векторы обратной решетки Та) делятся сверхструктурными рефлексами на четыре равные части. Такое предположение автоматически означало, что элементарная ячейка сверхструктуры имеет параметры as - bs - х - cs 4a, где а - параметр решетки Та. Эта интерпретация экспериментальных данных вызывает сомнения. Дело в том, что дифракционные картины, наблюдаемые в [78], могли быть также с равным основанием приписаны дифракции от нескольких доменов сверхструктуры TaieO, различным образом ориентированных относительно кристаллографических осей решетки чистого Та. Появление субокислов Та1бО можно было бы ожидать при незначительном ( неконтролируемом) окислении фольг в колонне микроскопа. [9]

Систематический анализ продуктов гидратации цемента методами оптической и электронной микроскопии показал, что в реальном цементном камне представлены те же типы сростков, что наблюдаются и в продуктах гидротермального синтеза, а исследования сростков кристаллов ГСК в камне тампонажных цементов методом электронной микродифракции показали полную идентичность характера сопряжения в контактной зоне с таковым для кристаллов ГСК, полученных гидротермальным способом. [10]

Предложен новый способ получения монокристаллов германия, основанный на реакции тетраалкилов германия с диэтиламином при температуре 4Г) 0 С в течение ( час. Методами электронной микроскопии и электронной микродифракции установлено, что твердые продукты реакции термораспада R4 0 являются чистым поликристаллическим слоем германия и лишь в топких слоях наблюдается жидкоподобпое состояние. Твердые продукты реакции тетраалкилгермания с днэтиллмином также представляют собой чистый поликристаллическип германии с содержанием незначительного количества аморфного германия. [11]

В последнем разделе курса - электронно-оптических методах анализа структуры и состава вещества - самое большое внимание уделено методу просвечивающей ( дифракционной) микроскопии. В связи с широким применением электронной микродифракции в электронно-микроскопических изображениях кристаллов данный раздел органически связан со всем предыдущим содержанием курса. Это касается не только общих принципов дифракции, но и конкретных задач, решаемых в рентге-ноструктурном анализе и в методе дифракционной электронной микроскопии. [12]

В 1971 г. карбин был впервые получен157 лазерной сублимацией паров пирографита. Согласно данным рентгенографического исследования и электронной микродифракции, подученный материал состоял из аморфных и кристаллических частиц карбина со средним размером кристаллитов 10 см. Микродифракционный анализ точечных электронограмм ряда монокристаллов, выделенных после механического диспергирования образцов карбина, показал, что этим кристаллам соответствуют различные наборы межплоскостных расстояний. На основании этого был сделан вывод о существовании широкого набора полиморфных модификаций ( политипов) карбина, отличающихся параметрами элементарной кристаллической ячейки. [13]

Сделанное открытие дает возможность получения в метастабильных условиях алмазных монокристаллов значительных линейных размеров. Монокристальная структура, доказанная методами рентгеновской и электронной микродифракции, позволяет ожидать рекордных прочностных свойств. [14]

Модель кристаллической структуры мартенситной фазы в сплавах Ti - Ni [ 1J. [15]

Страницы: 1 2