Cтраница 2
По результатам рентгеновского дифракционного анализа и анализа методом электронной микродифракции абсолютные величины периодов решетки заметно различаются. [16]
В этих случаях для идентификации частиц целесообразно применять электронную микродифракцию. [17]
Форма металлической частицы обычно уплощенная и хорошо ограненная. Диаметр металлической частицы превышает диаметр углеродной нити. Данные электронной микродифракции ( ЭМД) показывают, что наиболее развитой гранью частицы металла является грань ( 111) гранецентрированной решетки металла. Эта грань перпендикулярна направлению роста нити и контактирует с плоскостями ( 002) графита. Боковые грани ( 100) свободны и не контактируют с углеродом, являясь центрами разложения метана. [18]
В книге дается изложение теории фазовых превращений в твердых растворах и ее приложений к проблеме формирования кристаллической структуры упорядоченных фаз замещения и внедрения и субструктуры гетерофазных сплавов. Важное место в книге занимает сопоставление результатов теоретического анализа и данных рентгеноструктурного, ней-троноструктурного и электронномикроскопического экспериментов. В частности, рассматривается проблема расшифровки картин электронной микродифракции с помощью метода статических концентрационных волн, проблема габитуса и формы выделений новой фазы, их ориентационные соотношения и пространственное расположение. Подробно разбирается доменный механизм и морфология модулированных структур в распадающихся твердых растворах. [19]
Любой электронный микроскоп может быть использован как элект-ронограф. В современных микроскопах переход от наблюдения микроскопической картины к наблюдению дифракционной картины совершается изменением режима работы проекционной системы прибора. Получение дифракционной картины, соответствующей участку микроскопической картины объекта ( электронная микродифракция), является одним из самых важных средств структурного анализа материалов. [20]
В усах часто содержатся частицы второй фазы. Эти частицы имеют тенденцию располагаться на одинаковом расстоянии друг от друга, как показано на рис. 1; иногда они видны как выступы на реплике. Частицы второй фазы всегда непрозрачны для электронов, и поэтому их нельзя непосредственно идентифицировать методом электронной микродифракции на просвет. [21]
Модель этой структуры показана на рис. 2.1. Она показывает, каким образом орТоромбическая слоистая структура типа N1H становится искаженной моноклинной структурой. Моноклинные искажения решетки в этом случае отличаются от искажений кристаллической структуры мартенситной фазы в сплавах Си-Zn. Направление однородного сдвига, в результате которого орторомбическая решетка деформируется в моноклинную, не является параллельным направлению перетасовки базисных плоскостей, а ортогонально ему. С помощью этой модели можно достаточно хорошо объяснить результаты исследований методом электронной микродифракции. Недостаток модели состоит в том, что с ее помощью невозможно объяснить существование отражения 001, четко обнаруживаемого на рентгенограммах. Ооцука [1] принял, что период решетки 0 4622 нм соответствует оси с мартенситной фазы. [22]
III) метод статических концентрационных волн открывает новые возможности для теории. Он позволяет учесть взаимодействие атомов в произвольном числе координационных сфер и связать потенциа-лы межатомного взаимодействия со строением кристаллической решетки упорядоченных фаз. Представление вероятности распределения с помощью статических концентрационных волн может быть полезным и в отношении интерпретации экспериментальных данных по рассеянию рентгеновских лучей упорядоченными сплавами и интерпретации картин электронной микродифракции. В самом деле, если обратиться к рассмотренному примеру сплава CuAul, то можно заметить, что мы не только определили пара - Метр дальнего порядка, но и нашли стехиометрический состав и атомно-кристаллическое строение упорядоченной фазы. При этом мы воспользовались лишь тем, что картина дифракции рентгеновских лучей содержит только один сверхструктурный вектор KO 2яа3 в каждой примитивной ячейке Бравэ, образованной сверхструктурными векторами обратной решетки. [23]