Микропримесь - элемент
Cтраница 1
Микропримеси элементов в природных водах, как правило, определяют после их концентрирования. В химическом анализе для концентрирования и отделения примесей элементов обычно применяют экстракционные, хроматографические и электрохимические методы, а также методы, основанные на отгонке в форме летучих соединений и связанные с использованием соосаждения, каждый из которых характеризуется определенными достоинствами и недостатками. [1]
Микропримеси элементов в серебре и его соединениях обычно определяют после предварительного отделения от основного компонента какими-либо химическими методами. Исключение составляет спектральный метод, при котором анализу подвергают непосредственно металлическое серебро, AgCl или AgN03, полученный растворением образца и последующим выпариванием смеси раствора с графитовым порошком. [2]
 |
Чувствительность определения примесей в МОС галлия. [3] |
Контроль микропримесей элементов в МОС галлия осуществляли по разработанным нами методикам: кремний определяли спектрофотометрическп в виде кремнево-молибде-новой гетерополикислоты после переведения пробы в хлорид галлия; серу контролировали спектрофотометрическн по све-топоглощению сульфида свинца; селен и теллур - путем отделения от основы осаждением их на мышьяке ( коллектор) из солянокислого раствора и последующим раздельным определением селена флуорометрически по реакции с 3 3-диами-нобензидином, а теллура - спектрофотометрически в виде гексабромтеллур ( 1У) диантипирилпропилметана, экстрагируемого дихлорэтаном. [4]
Значительно хуже изучен механизм соосаждения микропримесей элементов с коллоидными неорганическими осадками. По этому вопросу существуют две точки зрения. Согласно одной из них, металл-микрокомпонент количественно захватывается коллоидным неорганическим соосадителем ( коллектором) благодаря переходу первого в коллоидное состояние. Согласно другой точке зрения, такое захватывание микрокомпонента происходит путем адсорбции. [5]
Разработана методика химико-спектрального определения двадцати двух микропримесей элементов с чувствительностью ЗЛО 6 - - 1.10 - 7 вес. [6]
Явление свечения кристаллофосфоров тоже может быть использовано для определения микропримесей элементов, в большинстве случаев для катионов тяжелых металлов, урана и некоторых редкоземельных элементов. Многие соли или окислы в твердом состоянии способны флуоресцировать, если их кристаллическая решетка деформирована внедрившимися в нее посторонними катионами - активаторами. Это явление может быть использовано аналитиками для обнаружения и количественного определения этих катионов - активаторов, способных привести, после их внедрения в кристаллическую решетку, к возникновению флуоресценции у кристалла. [7]
В 1945 году перед Институтом были поставлены новые задачи по разработке методов получения веществ высокой чистоты и по определению в них содержания микропримесей элементов. Для решения последней задачи Г. А. Певцовым с В. М. Татевским была создана группа спектрального эмиссионного анализа, реорганизованная в 1948 году в лабораторию физико-химических методов анализа. [8]
Физические примеси полупроводника оказывают аналогичное действие: одни дефекты решетки ведут себя, как микропри-ыеси элементов III группы, а другие, как микропримеси элементов V группы. [9]
 |
Установка для поглощения пентакарбонила. [10] |
Термообрабоганные порошки карбонильного железа анализируют на содержание в них примесей углерода и азота, а порошки особой чистоты, кроме того, - на содержание микропримесей элементов: марганца, меди, никеля, хрома, кобальта, алюминия, свинца, магния и кремния. [11]
В связи с развитием новой техники в 1945 году перед Институтом были поставлены новые задачи: разрабатывать методы получения веществ высокой чистоты и определять в них содержание микропримесей элементов. [12]
Таким образом, разработка технологических схем получения полупроводниковых материалов, содержащих селен и теллур, всегда должна сопровождаться контролем степени чистоты исходных металлов с применением различных методов определения микропримесей элементов в них. [13]
Этот метод применяют в тех случаях, когда необходимо устранить погрешности в анализе вследствие влияния различного химического состава растворов проб и эталонных растворов, а также при определении микропримесей элементов. Для получения правильных результатов достаточно произвести два измерения оптических плотностей. [14]
Методом мониторирования целесообразно пользоваться при серийном определении большого числа элементов в одной пробе. Высокая плотность потока нейтронов в реакторе обеспечивает достижение весьма низких пределов обнаружения ( табл. 1.17) микропримесей элементов с атомным весом больше 20 в различных природных и технологических объектах. В общем случае предел обнаружения, согласно уравнению ( 3), прямо пропорционален потоку бомбардирующих частиц и сечению ядерной реакции. В реальных условиях предел обнаружения зависит от периода полураспада определяемого изотопа ( не всегда возможно длительное облучение или измерение непосредственно после облучения), от типа регистрируемой аппаратуры и других методических факторов. Практически обычно достижимы пределы обнаружения на 1 - 1 5 порядка выше расчетных ( см. табл. 1.17), но они по-прежнему остаются низкими. [15]
Страницы: 1 2