Микроскоп - тип
Cтраница 1
Микроскопы типа ЭМ-3, ЭМ-100 и УЭМ-ЮО дают возможность исследовать кристаллическое строение объекта методом дифракции электронов, иными словами, они могут быть использованы как электронографы. [1]
 |
Погрешности инструментальных микроскопов при контроле резьбы. [2] |
Микроскопы типа ИТ и ММИ имеют пределы измерения: в продольном направлении 75 мм и в поперечном 25 мм, а микроскоп большой модели типа БМИ в продольном направлении 150 мм и в поперечном 50 мм. [3]
Микроскопы типа БМИ имеют механизм точной фокусировки: вращая рифленое кольцо 4, тубус микроскопа смещают по цилиндрическим направляющим кронштейна. Сверху на тубусе микроскопа закрепляют сменную угломерную окулярную головку ОГУ-21 с визирным 7 и отсчетным 6 микроскопами или револьверную ( профильную) окулярную головку ОГР-23, либо головку двойного изображения ОГУ-22. Каждая из этих головок имеет 10-кратное увеличение. Стол 2 может свободно перемещаться в продольном и поперечном направлениях, что используют для грубой установки. Такая система перемещения стола, ставшая возможной благодаря применению стеклянных шкал, значительно сокращает затраты времени на измерения. Маховички 7 грубой и точной установки тубуса микроскопа по высоте выполнены соосными, что облегчает настройку. [4]
В приборе использован микроскоп типа МИР-12. Окуляр микроскопа 6 имеет делительную сетку, устанавливаемую при укладке в-итков решетки параллельно виткам и перпендикулярно кромке временной основы. Микроскоп имеет измерительный винт 8, позволяющий производить поперечные перемещения измерительной сетки с точностью от 0 01 мм. [5]
Универсальный микроскоп типа УИМ-24 отличается от микроскопа типа УИМ-23 увеличенным диапазоном измерений, более массивной конструкцией, позволяющей измерять изделия массой до 100 кг. Изделие на микроскопе во время измерения остается неподвижным, для измерения тяжелых деталей в микроскоп встроен электрический подъемник. [6]
Измерение производится на заснятой пленке на микроскопе типа Б ИМ. [7]
Счет плотности треков а-частиц проводят с помощью микроскопа типа МИН-6 или МИН-8 в проходящем свете. [8]
ПРИБОРЫ и ПРИНАДЛЕЖНОСТИ: набор испытуемых стержней, микроскоп типа МИР - 12, термопара медь - константан, градуировочный график термопары, милливольтметр, ЛАТР. [9]
Контроль внешнего вида печатных плат производят с помощью микроскопов типа МБС-1 или МБС-2, телевизионных установок, луп с бестеневым освещением. Для контроля плат больших размеров используют устройства с подсветом и вакуумным прижимом и приспособлением для перемещения бинокулярного микроскопа по всему полю платы. Это создает удобство оператору в контроле любой точки платы. Состояние внутренних поверхностей металлизированных отверстий хорошо наблюдать с помощью микроскопов с коротким фокусным расстоянием типа Микробор. Сравнение рисунка печатной платы с фотошаблоном производят на компараскопах. [10]
К этому же методу относится сравнение с помощью микроскопа типа Буша. [11]
В качестве примера следует указать, что в микроскопе типа Квикскан с увеличенной камерой объектов нужна высота плоскости излома 51 0 5 мм. [12]
Глубину серебра ( трещин) можно определить с помощью микроскопов типа МБП-2 или Мир 2, имеющих специальное приспособление. [13]
Для измерения шероховатости поверхности могут быть использованы однообъек-тивные растровые ( муаровые) микроскопы типа MOM. Выпускаемый ЛОМО растровый измерительный микроскоп типа ОРИМ-1 предназначен для измерения шероховатости наружных металлических поверхностей с направленными следами от обработки. [14]
Диагностические приборы, такие как офтальмоскопы; бинокулярные лупы с головными повязками и микроскопы бинокулярного типа, состоящие из микроскопа, электрической лампы с щелью и подголовника, причем все в целом установлено на регулируемой опоре для обследования глаз; тонометры ( для проверки внутриглазного давления); векорасширители. [15]
Страницы: 1 2 3