Микроскоп - тип - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Девушка, можно пригласить вас на ужин с завтраком? Законы Мерфи (еще...)

Микроскоп - тип

Cтраница 2


Оптическая головка стенда устанавливается на колоннах ( см. рис. 84) и состоит из микроскопа типа МБС-1. Стереоскопический бинокулярный микроскоп служит для визуального рассматривания поверхности испытываемого образца. При включении осветителя оптическая система позволяет рассматривать образец в отраженном свете. Для предохранения микроскопа от излишнего перегрева последний можно отвести в стороны от печи, а во время наблюдения обдувать воздухом с помощью вентилятора. В каретку микроскопа встроено отсчетное устройство микрометрического типа, которое позволяет замерять деформацию с большой точностью. Миллиметровая шкала деформаций нанесена на неподвижной линейке, укрепленной на каретке микроскопа. Сотые деления отсчета нанесены на вращающемся нониусе, жестко связанном с винтом микрометрического типа.  [16]

Расстояние от входного окна коллиматора до образца 60 мм, расстояние от образца до плоской пленки 1 Ч - 10 мм, размер плоской фотопленки 24 X 24 мм, диаметр цилиндрической кассеты 28 65 мм; диапазон регистрируемых углов дифракции при использовании цилиндрической кассеты от 10 до 70; диаметр полуцилиндрической кассеты 57 3 мм; диапазон регистрируемых углов дифракции при использовании полуцилиндрической кассеты от 10 до 45; размеры фотопленки цилиндрических кассет 9 X 14 5 мм, диаметры диафрагм сменных коллиматоров 0 7; 0 1; 0 04; 0 02 мм, размеры щелей коллиматора 0 1 X 3 мм, 0 5 X 3 мм; диаметр облучаемой области образцов 0 2 ч - 0 4 мм; размер исследуемых образцов не более 15 X 15 X X 2 мм; вращение образца вокруг главной вертикальной оси в диапазоне от 0 до 360; скорость вращения образца от электродвигателя 2 об / мин; два взаимно перпендикулярных поступательных движения образца в плоскости, перпендикулярной рентгеновскому лучу, в диапазоне 8 мм; размеры щелей перед счетчиком 1; 0 5; 0 15; 0 1 мм; диапазон углов, регистрируемых счетчиком, от 45 до 60; микроскоп типа МБС-2 с увеличением от 3 5 до 115; питание электродвигателя и осветительной системы 220 в; габаритные размеры камеры 460 х 380 X 415 мм; вес не более 50 кг.  [17]

При подобных исследованиях обычно применяют увеличение от 80 до 200 раз. Микроскоп школьного типа вполне пригоден для этой цели.  [18]

Бинокулярный измерительный микроскоп типа БМИ имеет расширенный диапазон измерения, более точные отсчетные устройства в виде проекционных систем, бинокуляр для визирования и сменные кассеты. На базе микроскопа типа БМИ освоен выпуск инструментальных микроскопов типа БМИ-Щ с цифровым отсчетом.  [19]

На рис. 143 приведена одна из таких модернизированных конструкций типа ИЗК-50, которая предназначена для контроля плоскостности микрозеркал. Этот прибор представляет собою микроскоп учебного типа МА со столиком 2 и интерференционной насадкой 3, которая ввинчивается в тубус микроскопа вместе объектива.  [20]

21 Схема сферического радиометра.| Общий вид установки. [21]

С помощью муфты и установочных винтов радиометр укрепляется на стержне, который, в свою очередь, зажимается в координатном устройстве. На этом же стержне закрепляется микроскоп типа МБС-1 таким образом, что через плексигласовое обрамление радиометра в микроскоп видна сфера радиометра.  [22]

АЭ УЛ-101 был разработан в 1977 г. в рамках ОКР Криоген-1. Это первый отечественный промышленный оптический квантовый усилитель яркости изображения, предназначенный для комплектования лазерных проекционных микроскопов типа ЛПМ-1000 с целью визуального контроля изделий микроэлектроники. Конструкция АЭ УЛ-101 ( диаметр и длина разрядного канала 20 и 400 мм соответственно) по существу аналогична конструкции отпаянного саморазогревного АЭ ТЛГ-5 со всеми ее недостатками. К тому же, как выяснилось, была допущена существенная ошибка в конструкции генераторов паров меди. Эти генераторы были установлены на наружной поверхности керамических трубок разрядного канала в танталовых обоймах, и в местах установки в керамических трубках были просверлены отверстия для поступления паров меди в разрядный канал. Но в условиях высоких температур между танталовой обоймой и керамической трубкой из-за различных коэффициентов термического расширения образуется зазор и часть расплавленной меди выливается в теплоизолятор. Часто отверстия в керамике зарастают и в активной среде не достигается оптимальная концентрация паров меди. Такая конструкция снижает как мощность излучения, так и срок службы АЭ. Но следует отметить два положительных момента. Во-первых, вакуумноплотная оболочка АЭ была изготовлена из металлокерамических секций, что придавало ему повышенную механическую прочность; во-вторых, выходные окна были установлены под углом 85 к оптической оси с целью устранения обратной паразитной связи.  [23]

Разработан и хорошо зарекомендовал себя метод [161] определения ситового состава частиц загрязнений дистиллятных топ-лив. Он отличается от описанного выше тем, что частицы загрязнений просматривают и подсчитывают по размерам под микроскопом типа МБМ-6 не в капле, а в слое топлива высотой 10 - 20 мм, залитого в кювету из специального ст-екла. Число полей зрения для подсчета частиц в 1 мл топлива зависит от степени его загрязненности.  [24]

Металлмикроскопы предназначаются для исследования непрозрачных объектов главным образом шлифов металлов в отраженном свете. По конструкции их можно разделить на две группы: приборы, у которых объектив расположен над столиком, и приборы с объективом под столиком. Последние называют микроскопами типа Ле Шателье. Все металлмикроскопы имеют встроенный осветитель.  [25]

При рассматривании шарика в микроскоп получается очень отчетливая картина, позволяющая легко подмечать малейшие недостатки полировки. Хуже обстоит дело с камнем; из-за прозрачности его дефекты полированной поверхности достаточно удовлетворительно обнаруживаются только при помощи двойных ( бинокулярных) дорогих микроскопов. В обычных же микроскопах типа школьного получается изображение, не дающее четкого представления о состоянии поверхности камня. Это обстоятельство приводит многих к отказу от пользования микроскопом при освидетельствовании камня. Вместо этого камень ощупывают остро заточенной иглой. Несмотря на кажущуюся примитивность этого способа, он оказывается достаточно удовлетворительным, хотя и не гарантирует безошибочности определения состояния камня: случаи, при которых изъяны камня остаются не найденными при помощи иглы, весьма редки, ко наблюдаются случаи, когда забраковываются хорошие камни.  [26]

На переходной камере установлен прозрачный разделительный цилиндр 7, к которому крепится цилиндр манометра. Гайка на нижнем конце поршня манометра является одновременно визиром, по которому определяется положение равновесия при работе на весах. Отсчет производится с помощью микроскопа типа МПБ. Внутренняя полость силовой поршневой группы и пресс заполняются касторовым маслом, а переходная камера и разделительный цилиндр - керосином.  [27]

На верхней части стойки расположены суппорты координатных перемещений инструментальной головки. Инструментальная головка имеет ручное и автоматическое вертикальное перемещение, а также механическое перемещение по всем координатам. Для точных отсчетов координатных перемещений предусмотрены микроскопы типа МО с прецизионными линейками. Для определения глубины и времени обработки на инструментальной головке установлено от-счетное устройство.  [28]

Испытываемую полупару обуви надевают на металлическую колодку специального приспособления и закрепляют на основании таким образом, чтобы удар наносился по нормали к поверхности амортизатора. Внутрь ударника вкладывают металлическую пластинку толщиной 5 мм, на которую опирается стальной шарик диаметром. После удара пластинку извлекают и измеряют микроскопом типа МПБ-2 диаметр отпечатка шарика.  [29]

Испытываемую полупару обуви надевают на металлическую колодку специального приспособления и закрепляют на основании таким образом, чтобы удар наносился по нормали к поверхности амортизатора. Внутрь ударника вкладывают металлическую пластинку толщиной 5 мм, на которую опирается стальной шарик диаметром 10 мм. После удара пластинку извлекают и измеряют микроскопом типа МПБ-2 диаметр отпечатка шарика.  [30]



Страницы:      1    2    3